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芯片测试装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011013781.X
申请日：
2020-09-24
公开(公告)号：
CN114256730A
公开(公告)日：
2022-03-29
发明(设计)人：
国晓薇
何政
呼哲勇
申请人：
申请人地址：
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
IPC主分类号：
H01S500
IPC分类号：
代理机构：
北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329
代理人：
周乔;王君
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-03-29 | 公开 | 公开 |
| 2022-04-15 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):H01S 5/00 申请日:20200924 |