一种半导体激光器的测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510740442.4

申请日：

2015-11-04

公开(公告)号：

CN106644401A

公开(公告)日：

2017-05-10

发明(设计)人：

詹敦平方文银

申请人：

申请人地址：

212009 江苏省镇江市镇江新区丁卯南纬四路36号（科技新城产业聚集区21栋）

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

镇江京科专利商标代理有限公司 32107

代理人：

夏哲华

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-05-24	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01M 11/02 申请公布日:20170510
2017-05-10	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体激光器的可靠性测试方法 [P].

章林强 ;

詹敦平 ;

周四海 .

中国专利 :CN102520329A ,2012-06-27

[2]

半导体激光器LIV测试系统 [P].

穆宏伟 ;

张彩 .

中国专利 :CN201993424U ,2011-09-28

[3]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN104880298B ,2015-09-02

[4]

半导体激光器测试系统 [P].

刘兴胜 ;

刘晖 ;

王昊 .

中国专利 :CN303490424S ,2015-12-09

[5]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN204666336U ,2015-09-23

[6]

半导体激光器的测试系统 [P].

钟绪浪 ;

朱宝华 ;

王瑾 ;

陆业钊 ;

高云峰 .

中国专利 :CN106679937A ,2017-05-17

[7]

一种半导体激光器测试系统、测试方法 [P].

孙翔 ;

朱亚旗 ;

任占强 ;

李青民 ;

李翔 .

中国专利 :CN118980904A ,2024-11-19

[8]

一种半导体激光器自动老化测试系统 [P].

占临风 ;

李廷安 ;

马伟 .

中国专利 :CN117590121A ,2024-02-23

[9]

半导体激光器的测试方法、系统及存储介质 [P].

陈银河 ;

魏伯凡 .

中国专利 :CN117451319A ,2024-01-26

[10]

半导体激光器自动功能测试系统 [P].

文少剑 ;

刘猛 ;

黄海翔 ;

廖东升 ;

董晓东 .

中国专利 :CN208283041U ,2018-12-25

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