用于纳米压印光刻系统的六自由度精密定位工作台

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200910229131.6
申请日
2009-12-11
公开(公告)号
CN101726997B
公开(公告)日
2010-06-09
发明(设计)人
田延岭 贾晓辉 张大卫
申请人
申请人地址
300072 天津市南开区卫津路92号
IPC主分类号
G03F700
IPC分类号
B25H100
代理机构
天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201
代理人
王丽英
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
用于纳米压印光刻系统的三自由度微定位工作台 [P]. 
田延岭 ;
贾晓辉 ;
张大卫 .
中国专利 :CN101776851B ,2010-07-14
[2]
二自由度精密定位工作台 [P]. 
田延岭 ;
贾晓辉 ;
张大卫 .
中国专利 :CN101750885A ,2010-06-23
[3]
三自由度柔性精密定位工作台 [P]. 
田延岭 ;
贾晓辉 ;
张大卫 .
中国专利 :CN101770182B ,2010-07-07
[4]
一种用于纳米压印光刻系统的两平动精密定位工作台 [P]. 
田延岭 ;
贾晓辉 ;
张大卫 .
中国专利 :CN101770166A ,2010-07-07
[5]
用于纳米压印光刻系统的两平动一转动精密定位工作台 [P]. 
田延岭 ;
贾晓辉 ;
张大卫 .
中国专利 :CN101710229A ,2010-05-19
[6]
二自由度柔性微定位工作台 [P]. 
田延岭 ;
贾晓辉 ;
张大卫 .
中国专利 :CN101738855B ,2010-06-16
[7]
六自由度精密定位工作台 [P]. 
王勇 ;
刘志刚 ;
薄锋 ;
朱健强 .
中国专利 :CN100340378C ,2005-09-21
[8]
六自由度精密定位工作台 [P]. 
王勇 ;
刘志刚 ;
薄锋 ;
朱健强 .
中国专利 :CN2782326Y ,2006-05-24
[9]
三自由度精密定位工作台 [P]. 
张建瓴 ;
陈万银 ;
可欣荣 ;
洪添胜 ;
张铁民 .
中国专利 :CN201168876Y ,2008-12-24
[10]
3T1R四自由度精密定位工作台 [P]. 
田延岭 ;
贾晓辉 ;
张大卫 ;
田佳 .
中国专利 :CN102819186B ,2012-12-12