硅晶片的制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610198592.1
申请日
2016-04-01
公开(公告)号
CN106048732B
公开(公告)日
2016-10-26
发明(设计)人
须藤治生 荒木浩司 青木龙彦 前田进
申请人
申请人地址
日本新泻县
IPC主分类号
C30B3302
IPC分类号
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
张桂霞;刘力
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
硅晶片及其制造方法 [P]. 
荒木浩司 ;
青木龙彦 ;
须藤治生 ;
仙田刚士 .
中国专利 :CN104347395A ,2015-02-11
[2]
半导体硅晶片的制造方法 [P]. 
仙田刚士 ;
成松真吾 .
中国专利 :CN115135816A ,2022-09-30
[3]
硅晶片的清洗方法、硅晶片的制造方法、以及硅晶片 [P]. 
中尾文彰 ;
芦马溪 ;
小田悠 .
日本专利 :CN121219817A ,2025-12-26
[4]
硅晶片、硅晶片的制造方法及硅晶片的热处理方法 [P]. 
矶贝宏道 ;
仙田刚士 ;
丰田英二 ;
村山久美子 ;
泉妻宏治 ;
前田进 ;
鹿岛一日児 ;
荒木浩司 ;
青木竜彦 ;
须藤治生 ;
望月阳一郎 ;
小林昭彦 ;
符森林 .
中国专利 :CN101638807B ,2010-02-03
[5]
硅晶片的制造方法 [P]. 
佐佐木拓也 ;
桥本浩昌 ;
佐藤一弥 ;
佐藤歩 .
中国专利 :CN103415913B ,2013-11-27
[6]
硅晶片的制造方法 [P]. 
古屋田荣 ;
桥井友裕 ;
村山克彦 ;
高石和成 ;
加藤健夫 .
中国专利 :CN100435288C ,2007-02-21
[7]
半导体硅晶片的制造方法 [P]. 
仙田刚士 ;
须藤治生 .
中国专利 :CN115135818A ,2022-09-30
[8]
硅晶片的评价方法、硅晶片制造工序的评价方法、硅晶片的制造方法以及硅晶片 [P]. 
森敬一朗 .
中国专利 :CN109690746A ,2019-04-26
[9]
硅晶片的评价方法、硅晶片制造工序的评价方法、硅晶片的制造方法以及硅晶片 [P]. 
森敬一朗 .
日本专利 :CN109690746B ,2024-02-09
[10]
硅晶片的制造方法及硅晶片 [P]. 
杉森胜久 ;
小佐佐和明 .
中国专利 :CN105097444B ,2015-11-25