一种集成电路测试装置

被引：0

申请号：

CN202123374361.7

申请日：

2021-12-29

公开(公告)号：

CN217034025U

公开(公告)日：

2022-07-22

发明(设计)人：

祁书龙廖继武孙宏伟

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区福城街道新和社区观澜大道116-2号202

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

东莞市卓易专利代理事务所(普通合伙) 44777

代理人：

陈海祥

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路测试装置 [P].

全汉峰 .

中国专利 :CN212569036U ,2021-02-19

[2]

一种集成电路测试装置 [P].

方经军 .

中国专利 :CN210954252U ,2020-07-07

[3]

一种集成电路测试装置 [P].

庄渊胜 ;

杨勇 .

中国专利 :CN223526406U ,2025-11-07

[4]

一种集成电路测试装置 [P].

连珍娇 ;

谢宝珠 ;

樊武华 .

中国专利 :CN215953783U ,2022-03-04

[5]

一种集成电路测试装置 [P].

江耀明 ;

梁文华 ;

廖国洪 ;

廖慧霞 ;

莫嘉 .

中国专利 :CN221726084U ,2024-09-17

[6]

一种集成电路测试装置 [P].

宋海声 ;

李峰 .

中国专利 :CN214011317U ,2021-08-20

[7]

一种集成电路测试装置 [P].

叶钧戊 ;

李明正 ;

胡刚 .

中国专利 :CN212965299U ,2021-04-13

[8]

一种集成电路测试装置 [P].

栾海林 ;

吴松青 .

中国专利 :CN210465604U ,2020-05-05

[9]

一种集成电路测试装置 [P].

来楚楚 .

中国专利 :CN212008829U ,2020-11-24

[10]

一种集成电路测试装置 [P].

王国华 .

中国专利 :CN203825153U ,2014-09-10

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