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一种集成电路测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201420058509.7
申请日：
2014-02-07
公开(公告)号：
CN203825153U
公开(公告)日：
2014-09-10
发明(设计)人：
王国华
申请人：
申请人地址：
518100 广东省深圳市宝安区西乡街道南昌社区健裕第二工业区A栋2楼202
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
深圳国鑫联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324
代理人：
王志强
法律状态：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2017-02-15 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101746815895 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2014200585097 变更事项:专利权人 变更前:深圳市斯纳达科技有限公司 变更后:深圳市斯纳达科技有限公司 变更事项:地址 变更前:518100 广东省深圳市宝安区西乡街道南昌社区健裕第二工业区A栋2楼202 变更后:518000 广东省深圳市光明新区公明办事处田寮社区第十工业区4栋六楼A |
| 2014-09-10 | 授权 | 授权 |