一种集成电路测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422686852.2

申请日：

2024-11-05

公开(公告)号：

CN223526406U

公开(公告)日：

2025-11-07

发明(设计)人：

庄渊胜杨勇

申请人：

东莞市千颖电子有限公司

申请人地址：

523000 广东省东莞市东城街道裕园街1号1栋201室

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/02 G01R31/28 H05K7/20

代理机构：

东莞创博知识产权代理事务所(普通合伙) 44803

代理人：

陈柏陶

法律状态：

授权

国省代码：

广东省东莞市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路测试用偏压测试装置 [P].

彭佳颖 .

中国专利 :CN218445564U ,2023-02-03

[2]

一种集成电路测试装置 [P].

方经军 .

中国专利 :CN210954252U ,2020-07-07

[3]

一种集成电路测试装置 [P].

祁书龙 ;

廖继武 ;

孙宏伟 .

中国专利 :CN217034025U ,2022-07-22

[4]

一种集成电路测试装置 [P].

连珍娇 ;

谢宝珠 ;

樊武华 .

中国专利 :CN215953783U ,2022-03-04

[5]

一种集成电路测试装置 [P].

江耀明 ;

梁文华 ;

廖国洪 ;

廖慧霞 ;

莫嘉 .

中国专利 :CN221726084U ,2024-09-17

[6]

一种集成电路测试装置 [P].

宋海声 ;

李峰 .

中国专利 :CN214011317U ,2021-08-20

[7]

一种集成电路测试装置 [P].

栾海林 ;

吴松青 .

中国专利 :CN210465604U ,2020-05-05

[8]

一种集成电路测试装置 [P].

王国华 .

中国专利 :CN203825153U ,2014-09-10

[9]

一种集成电路测试装置 [P].

李燕 .

中国专利 :CN220933133U ,2024-05-10

[10]

一种集成电路测试装置 [P].

杨光 .

中国专利 :CN212932705U ,2021-04-09

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