一种光谱测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010107629.8

申请日：

2010-02-02

公开(公告)号：

CN102087142B

公开(公告)日：

2011-06-08

发明(设计)人：

潘建根

申请人：

申请人地址：

310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号

IPC主分类号：

G01J330

IPC分类号：

G01J142

代理机构：

杭州杭诚专利事务所有限公司 33109

代理人：

林宝堂

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-06-08	公开	公开
2011-07-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101089509507 IPC(主分类):G01J 3/30 专利申请号:2010101076298 申请日:20100202
2012-07-18	授权	授权

共 50 条

[1]

光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

[2]

光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法 [P].

五味二夫 .

中国专利 :CN106017687B ,2016-10-12

[3]

光谱仪的光谱测量方法 [P].

邓文平 .

中国专利 :CN105043996A ,2015-11-11

[4]

光谱仪及其光谱测量方法 [P].

黄勇谕 ;

李锡滨 ;

谢和易 ;

陈正雄 ;

林明慧 .

中国专利 :CN108344688A ,2018-07-31

[5]

光谱测量方法、装置 [P].

薛敏 ;

朱贝贝 ;

潘时龙 ;

曹源 .

中国专利 :CN107121193A ,2017-09-01

[6]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993A ,2022-05-27

[7]

超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 [P].

郝成龙 ;

谭凤泽 ;

朱瑞 ;

朱健 .

中国专利 :CN114543993B ,2024-09-24

[8]

透镜色差式光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

郑仲翔 ;

陈敬修 ;

胡恩德 .

中国专利 :CN104792697A ,2015-07-22

[9]

光谱测量装置及其测量方法 [P].

王振伟 .

中国专利 :CN115615544A ,2023-01-17

[10]

光谱测量系统及测量方法 [P].

戴琼海 ;

高彬 ;

张晶 ;

邵航 ;

范静涛 .

中国专利 :CN106841118A ,2017-06-13

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