一种半导体测试机的线材接线头装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201220440527.2
申请日
2012-08-31
公开(公告)号
CN202815109U
公开(公告)日
2013-03-20
发明(设计)人
李健 罗径华 何锦文
申请人
申请人地址
523750 广东省东莞市黄江镇裕元工业园区精成科技园区B栋杰群电子科技(东莞)有限公司
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
代理机构
东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215
代理人
雷利平
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体测试机的线材接线头装置 [P]. 
刘静 ;
陈伟 .
中国专利 :CN214201665U ,2021-09-14
[2]
一种半导体测试机的线材接线头装置 [P]. 
李维繁星 .
中国专利 :CN218298403U ,2023-01-13
[3]
一种半导体测试机连接线 [P]. 
刘静 ;
陈伟 .
中国专利 :CN214174550U ,2021-09-10
[4]
一种半导体测试机连接线 [P]. 
孟臣 .
中国专利 :CN207832839U ,2018-09-07
[5]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
李维繁星 .
中国专利 :CN218298502U ,2023-01-13
[6]
半导体测试机 [P]. 
林俊义 ;
黄俊耀 ;
林建弘 ;
陈柏玮 .
中国专利 :CN223051450U ,2025-07-01
[7]
一种半导体测试机 [P]. 
董福国 ;
毕云剑 ;
董福军 .
中国专利 :CN216351044U ,2022-04-19
[8]
半导体测试机的校准结构 [P]. 
熊烱声 ;
李圣 .
中国专利 :CN220626640U ,2024-03-19
[9]
半导体测试机校准装置 [P]. 
王武林 .
中国专利 :CN209460389U ,2019-10-01
[10]
半导体测试机校准装置 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
程尧 ;
张伟 .
中国专利 :CN207473074U ,2018-06-08