一种测试具有浮动栅极的非易失性存储器单元的数据保持的方法

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专利类型
发明
申请号
CN201280055415.8
申请日
2012-10-22
公开(公告)号
CN103988281A
公开(公告)日
2014-08-13
发明(设计)人
V·马科夫 J·尤 S·班萨尔 A·科托夫
申请人
申请人地址
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
H01L2102
IPC分类号
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
马丽娜;胡莉莉
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
具有成形浮动栅极的非易失性存储器 [P]. 
尼玛·穆赫莱斯 .
中国专利 :CN101523559B ,2009-09-02
[2]
具有辅助栅极的非易失性存储器单元结构 [P]. 
曹沐潆 ;
陈纬仁 .
中国专利 :CN106206591A ,2016-12-07
[3]
非易失性存储器单元的编程方法及非易失性存储器设备 [P]. 
宋承桓 .
韩国专利 :CN112885395B ,2025-08-01
[4]
非易失性存储器单元的编程方法及非易失性存储器设备 [P]. 
宋承桓 .
中国专利 :CN112885395A ,2021-06-01
[5]
非易失性存储器数据保持方法、非易失性存储器 [P]. 
唐伟童 ;
王延斌 ;
陈建梅 ;
董攀 .
中国专利 :CN120526827A ,2025-08-22
[6]
具有单个多晶硅浮动栅极和接触控制栅极的非易失性存储器单元 [P]. 
R·布雷戈利 ;
A·兰齐 ;
F·卡拉斯 ;
L·阿特泽尼 .
:CN120936030A ,2025-11-11
[7]
非易失性存储器的测试方法 [P]. 
谢君强 ;
张启华 .
中国专利 :CN102142283B ,2011-08-03
[8]
具有成簇的存储器单元的非易失性存储器器件 [P]. 
F·德桑蒂斯 ;
M·帕索蒂 ;
A·拉尔 .
中国专利 :CN103578545A ,2014-02-12
[9]
筛选非易失性存储器单元的方法 [P]. 
V·马克夫 ;
A·柯多夫 .
美国专利 :CN119072750A ,2024-12-03
[10]
非易失性存储器及形成非易失性存储器单元阵列的方法 [P]. 
尼玛·穆赫莱斯 .
中国专利 :CN101517707B ,2009-08-26