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一种晶圆边缘密封装置
被引:0
申请号
:
CN202221081596.9
申请日
:
2022-04-29
公开(公告)号
:
CN217214663U
公开(公告)日
:
2022-08-16
发明(设计)人
:
谷德鑫
申请人
:
申请人地址
:
110179 辽宁省沈阳市浑南区上深沟村863-9号,D09号354室
IPC主分类号
:
H01L2167
IPC分类号
:
代理机构
:
沈阳工匠智诚知识产权代理事务所(普通合伙) 21256
代理人
:
于婷婷
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-08-16
授权
授权
共 50 条
[1]
一种晶圆蚀刻设备移动机构密封装置
[P].
杨光宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨光宇
.
中国专利
:CN213541273U
,2021-06-25
[2]
晶圆高压密封装置
[P].
廉哲
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
廉哲
;
马飞
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
马飞
;
周斌
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
周斌
;
徐鹏嵩
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
徐鹏嵩
;
郭孝明
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
郭孝明
.
中国专利
:CN220668358U
,2024-03-26
[3]
一种晶圆边缘缺陷检测装置
[P].
曹棚棚
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
曹棚棚
;
解海江
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
解海江
;
何勇
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
何勇
.
中国专利
:CN223362059U
,2025-09-19
[4]
一种新型晶圆边缘检查装置
[P].
张沛
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张沛
;
叶声威
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叶声威
;
王恒
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王恒
;
高洪涛
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高洪涛
.
中国专利
:CN213878041U
,2021-08-03
[5]
一种改善晶圆边缘缺陷的装置
[P].
张欣
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张欣
;
丁小弟
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丁小弟
;
金懿
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0
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金懿
.
中国专利
:CN205069599U
,2016-03-02
[6]
一种半导体晶圆边缘去胶装置
[P].
蔡敏
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蔡敏
;
石正强
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石正强
.
中国专利
:CN214586381U
,2021-11-02
[7]
一种半导体晶圆边缘检查装置
[P].
丁超
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机构:
江苏纳沛斯半导体有限公司
江苏纳沛斯半导体有限公司
丁超
;
陈宝康
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机构:
江苏纳沛斯半导体有限公司
江苏纳沛斯半导体有限公司
陈宝康
;
张雄稚
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0
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机构:
江苏纳沛斯半导体有限公司
江苏纳沛斯半导体有限公司
张雄稚
.
中国专利
:CN222838010U
,2025-05-06
[8]
一种晶圆边缘清洗装置
[P].
唐强
论文数:
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0
唐强
;
刘永
论文数:
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刘永
.
中国专利
:CN203707094U
,2014-07-09
[9]
一种阴极辊边缘密封装置
[P].
马德福
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马德福
;
马科
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马科
;
周卫东
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周卫东
;
章远
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章远
;
张华
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张华
;
马政
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马政
.
中国专利
:CN204608188U
,2015-09-02
[10]
一种晶圆边缘检测装置
[P].
朱琪
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机构:
浙江埃纳检测技术有限公司
浙江埃纳检测技术有限公司
朱琪
;
鉏晨涛
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机构:
浙江埃纳检测技术有限公司
浙江埃纳检测技术有限公司
鉏晨涛
;
钱宝华
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机构:
浙江埃纳检测技术有限公司
浙江埃纳检测技术有限公司
钱宝华
.
中国专利
:CN222994350U
,2025-06-17
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