系统集成测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110556880.0

申请日：

2021-05-21

公开(公告)号：

CN113032284A

公开(公告)日：

2021-06-25

发明(设计)人：

崔宝秋任伟博

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区西二旗中路33号院6号楼8层018号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京法胜知识产权代理有限公司 11922

代理人：

白雪静

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-25	公开	公开

共 50 条

[1]

系统集成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李俊辉 ;

张顺强 ;

刘伟鹏 .

中国专利 :CN118410970A ,2024-07-30

[2]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘毅 ;

许超 .

中国专利 :CN113742198A ,2021-12-03

[3]

测试方法、装置、系统、电子设备及可读存储介质 [P].

崔正浩 ;

金凌 ;

刘伟东 ;

王蕊 ;

梁孔明 ;

马占宇 ;

张如许 .

中国专利 :CN118796629A ,2024-10-18

[4]

测试方法、测试系统、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙宏超 ;

任东锋 ;

赵小庆 .

中国专利 :CN120104463A ,2025-06-06

[5]

一种系统集成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

胡成时 ;

冯少辉 ;

何向宇 ;

胡永晟 .

中国专利 :CN114091412B ,2025-07-29

[6]

一种系统集成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

胡成时 ;

冯少辉 ;

何向宇 ;

胡永晟 .

中国专利 :CN114091412A ,2022-02-25

[7]

测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

许春 ;

路明远 ;

周春法 .

中国专利 :CN118585308A ,2024-09-03

[8]

测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

许春 ;

路明远 ;

周春法 .

中国专利 :CN118585308B ,2024-11-26

[9]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

万志强 .

中国专利 :CN119739618A ,2025-04-01

[10]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

陈昊 ;

郑明成 ;

贾占杰 .

中国专利 :CN118012381A ,2024-05-10

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