半导体器件的金属布线及其形成方法

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专利类型
发明
申请号
CN200710301883.X
申请日
2007-12-20
公开(公告)号
CN101383336A
公开(公告)日
2009-03-11
发明(设计)人
金恩洙 郑哲谟 洪承希
申请人
申请人地址
韩国京畿道利川市
IPC主分类号
H01L23522
IPC分类号
H01L21768
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人
刘继富;顾晋伟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件的金属布线及半导体器件的金属布线形成方法 [P]. 
金官洙 ;
金是范 ;
郑钟烈 ;
姜良范 ;
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[2]
半导体器件的多层金属布线及其形成方法 [P]. 
金秀贤 ;
金栢满 ;
李荣镇 ;
郑东河 ;
金鼎泰 .
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[3]
具有铜金属布线的半导体器件及其形成方法 [P]. 
朴正浩 .
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形成半导体器件金属布线的方法 [P]. 
金宪度 .
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[5]
形成半导体器件的金属布线的方法 [P]. 
金东俊 .
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[6]
形成半导体器件的金属布线的方法 [P]. 
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用于形成半导体器件金属布线的方法 [P]. 
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小邑笃 ;
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