半导体测试装置及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310024112.6

申请日：

2013-01-22

公开(公告)号：

CN103941172B

公开(公告)日：

2014-07-23

发明(设计)人：

冯军宏

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江路18号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

骆苏华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-12-28	授权	授权
2014-08-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101584548334 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2013100241126 申请日:20130122
2014-07-23	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体测试电路、半导体测试装置和半导体测试方法 [P].

吉田满 .

中国专利 :CN109073705A ,2018-12-21

[2]

半导体测试装置及半导体测试方法 [P].

高木保志 ;

山下钦也 ;

上野和起 .

中国专利 :CN114509646A ,2022-05-17

[3]

半导体测试系统、设计方法、测试方法和测试装置 [P].

鹿祥宾 ;

王立城 ;

贺骏 ;

赵文仙 ;

刘佳艺 ;

鲁鹏 ;

刘波 ;

张肖 ;

郭俊涛 .

中国专利 :CN120214526A ,2025-06-27

[4]

半导体测试装置、半导体测试方法及探针 [P].

杨劲松 ;

潘冬 ;

罗虎臣 .

中国专利 :CN117471266B ,2024-10-15

[5]

半导体测试装置、半导体测试方法及探针 [P].

杨劲松 ;

潘冬 ;

罗虎臣 .

中国专利 :CN117471266A ,2024-01-30

[6]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[7]

半导体测试装置和半导体测试方法 [P].

坂口英明 ;

永广雅之 ;

森雅美 .

中国专利 :CN1475811A ,2004-02-18

[8]

半导体激光测试装置及测试方法 [P].

胡海 ;

夏虹 ;

赵楚中 ;

刘文斌 ;

李成鹏 .

中国专利 :CN104142351A ,2014-11-12

[9]

半导体装置测试装置、测试系统及测试方法 [P].

C·斯托肯 ;

M·多布勒 .

中国专利 :CN1630054A ,2005-06-22

[10]

半导体测试装置及方法 [P].

张烨 ;

陈亚男 ;

金鹏 ;

郁万成 ;

王占国 .

中国专利 :CN107589360B ,2018-01-16

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