半导体器件以及半导体器件的制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN00100291.0
申请日
2000-01-14
公开(公告)号
CN1260595A
公开(公告)日
2000-07-19
发明(设计)人
幸康一郎 斋藤彻 久保实 大仲清司 浅井明 片山幸治
申请人
申请人地址
日本大阪府
IPC主分类号
H01L2902
IPC分类号
H01L29772 H01L21335
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司
代理人
汪惠民
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件以及半导体器件的制造方法 [P]. 
藤田和司 ;
江间泰示 ;
小川裕之 .
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[2]
半导体器件的制造方法以及半导体器件 [P]. 
木城耕一 .
中国专利 :CN1862790A ,2006-11-15
[3]
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井上隆 ;
竹胁利至 ;
中山达峰 ;
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金炳烈 ;
大谷洋一 ;
陈晓萌 .
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[6]
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[7]
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后藤洋太郎 ;
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[8]
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渡边昌崇 ;
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[9]
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[10]
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