负型光致抗蚀剂及形成光致抗蚀图的方法

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专利类型
发明
申请号
CN95119744.4
申请日
1995-11-20
公开(公告)号
CN1131754A
公开(公告)日
1996-09-25
发明(设计)人
岸村真治
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G03F7004
IPC分类号
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
任宗华
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光致抗蚀剂组合物和形成光致抗蚀剂图案的方法 [P]. 
杨立柏 ;
张庆裕 .
中国专利 :CN113238457A ,2021-08-10
[2]
正性光致抗蚀剂和形成光致抗蚀剂的方法 [P]. 
增田靖男 ;
奥井俊树 .
中国专利 :CN100404573C ,2006-08-23
[3]
光致抗蚀剂组合物及形成光致抗蚀剂图案的方法 [P]. 
郑载昌 .
中国专利 :CN100383666C ,2005-05-25
[4]
光致抗蚀剂下层和形成光致抗蚀剂图案的方法 [P]. 
訾安仁 ;
林进祥 ;
张庆裕 .
中国专利 :CN113176708A ,2021-07-27
[5]
光致抗蚀剂剥离剂及光致抗蚀剂剥离方法 [P]. 
邓强 .
中国专利 :CN109254507A ,2019-01-22
[6]
光致抗蚀剂组合物和形成光致抗蚀剂图案的方法 [P]. 
杨立柏 ;
赖韦翰 ;
张庆裕 .
中国专利 :CN113359391B ,2024-09-24
[7]
光致抗蚀剂组合物和形成光致抗蚀剂图案的方法 [P]. 
訾安仁 ;
张庆裕 .
中国专利 :CN112859515A ,2021-05-28
[8]
光致抗蚀剂组合物和形成光致抗蚀剂图案的方法 [P]. 
何俊智 ;
张庆裕 ;
林进祥 .
中国专利 :CN111007695B ,2025-06-06
[9]
光致抗蚀剂组合物和形成光致抗蚀剂图案的方法 [P]. 
何俊智 ;
张庆裕 ;
林进祥 .
中国专利 :CN111007695A ,2020-04-14
[10]
光致抗蚀剂组合物和形成光致抗蚀剂图案的方法 [P]. 
杨立柏 ;
赖韦翰 ;
张庆裕 .
中国专利 :CN113359391A ,2021-09-07