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原子层沉积装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111067752.6
申请日
:
2021-09-13
公开(公告)号
:
CN113774358B
公开(公告)日
:
2021-12-10
发明(设计)人
:
陈蓉
弋戈
刘潇
邵华晨
向俊任
李嘉伟
申请人
:
申请人地址
:
430070 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号
:
C23C16455
IPC分类号
:
C23C1620
C23C1644
代理机构
:
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
马梓洋
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-10
公开
公开
2021-12-28
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):C23C 16/455 申请日:20210913
2022-09-06
授权
授权
共 50 条
[1]
原子层沉积装置
[P].
陈蓉
论文数:
0
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陈蓉
;
邵华晨
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邵华晨
;
刘潇
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刘潇
;
向俊任
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向俊任
;
李嘉伟
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李嘉伟
;
弋戈
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弋戈
.
中国专利
:CN113564564A
,2021-10-29
[2]
原子层沉积装置及原子层沉积方法
[P].
刘良文
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
刘良文
;
闫晓晖
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
闫晓晖
;
拉海忠
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
拉海忠
.
中国专利
:CN119800330A
,2025-04-11
[3]
原子层沉积方法及原子层沉积装置
[P].
叶长福
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机构:
福建省晋华集成电路有限公司
福建省晋华集成电路有限公司
叶长福
;
魏鼎
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机构:
福建省晋华集成电路有限公司
福建省晋华集成电路有限公司
魏鼎
;
吕佐文
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机构:
福建省晋华集成电路有限公司
福建省晋华集成电路有限公司
吕佐文
.
中国专利
:CN117265508B
,2025-09-26
[4]
原子层沉积装置及原子层沉积方法
[P].
李名言
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李名言
;
吴孝哲
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吴孝哲
;
蔡文立
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蔡文立
.
中国专利
:CN101333648A
,2008-12-31
[5]
原子层沉积装置及原子层沉积方法
[P].
郭世根
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
郭世根
;
项金娟
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
项金娟
;
刘青
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
刘青
.
中国专利
:CN114351116B
,2024-12-31
[6]
原子层沉积装置及原子层沉积方法
[P].
郭世根
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郭世根
;
项金娟
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项金娟
;
刘青
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刘青
.
中国专利
:CN114351116A
,2022-04-15
[7]
原子层沉积装置及原子层沉积系统
[P].
曹生贤
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曹生贤
.
中国专利
:CN106030848B
,2016-10-12
[8]
原子层沉积方法和原子层沉积装置
[P].
佐藤英儿
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机构:
新烯控股有限公司
新烯控股有限公司
佐藤英儿
;
坂本仁志
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机构:
新烯控股有限公司
新烯控股有限公司
坂本仁志
.
日本专利
:CN120153123A
,2025-06-13
[9]
原子层沉积装置和原子层沉积方法
[P].
龟田直人
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龟田直人
;
三浦敏德
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三浦敏德
;
花仓满
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0
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花仓满
.
中国专利
:CN114286875A
,2022-04-05
[10]
原子层沉积装置和原子层沉积方法
[P].
长井博之
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长井博之
;
桑山哲朗
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桑山哲朗
.
中国专利
:CN104141117B
,2014-11-12
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