集成电路芯片缺陷检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201920326841.X

申请日：

2019-03-14

公开(公告)号：

CN209829618U

公开(公告)日：

2019-12-24

发明(设计)人：

苑学涛

申请人：

申请人地址：

100000 北京市西城区右安门内大街10号院1号楼7单元302号

IPC主分类号：

B07C534

IPC分类号：

B07C502 B07C536

代理机构：

无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260

代理人：

王闯

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-25	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):B07C 5/34 申请日:20190314 授权公告日:20191224 终止日期:20210314
2019-12-24	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路引线框架缺陷检测装置 [P].

王敕 ;

李锡凡 ;

陆城燕 .

中国专利 :CN210221842U ,2020-03-31

[2]

集成电路引线框架缺陷检测装置 [P].

王敕 ;

李锡凡 ;

陆城燕 .

中国专利 :CN110082357A ,2019-08-02

[3]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

华文强 ;

陈贤槟 ;

马春游 .

中国专利 :CN221387586U ,2024-07-23

[4]

集成电路芯片微纳尺度缺陷检测装置及方法 [P].

张紫璐 ;

应嘉俊 ;

郎琳 ;

张思源 ;

刘昊洋 ;

江文松 ;

范伟军 .

中国专利 :CN113686872A ,2021-11-23

[5]

集成电路芯片模块换向检测装置 [P].

吴成君 ;

林强 ;

张远斌 .

中国专利 :CN222125098U ,2024-12-06

[6]

用于集成电路芯片的检测装置 [P].

张成 ;

姚燕杰 ;

王丽 ;

位贤龙 .

中国专利 :CN113686781A ,2021-11-23

[7]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

高莎莎 ;

陈绍伟 .

中国专利 :CN213069088U ,2021-04-27

[8]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

叶军海 ;

叶瑜劼 .

中国专利 :CN221261058U ,2024-07-02

[9]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

王军 ;

郑浩然 .

中国专利 :CN221595182U ,2024-08-23

[10]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

高勇 ;

高小龙 ;

方潮 ;

包基寿 .

中国专利 :CN222482381U ,2025-02-14

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