一种集成电路芯片检测装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202322927140.0
申请日
2023-10-31
公开(公告)号
CN221261058U
公开(公告)日
2024-07-02
发明(设计)人
叶军海 叶瑜劼
申请人
绍兴鹏芯电子科技有限公司
申请人地址
312000 浙江省绍兴市越城区北海街道朝皇路218号越兴大厦407408
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
G01R31/28
代理机构
广东知产猫知识产权代理有限公司 44513
代理人
吴霜
法律状态
授权
国省代码
浙江省 绍兴市
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共 50 条
[1]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
王军 ;
郑浩然 .
中国专利 :CN221595182U ,2024-08-23
[2]
一种集成电路芯片粘着检测装置 [P]. 
张威 .
中国专利 :CN207396678U ,2018-05-22
[3]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
华文强 ;
陈贤槟 ;
马春游 .
中国专利 :CN221387586U ,2024-07-23
[4]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高莎莎 ;
陈绍伟 .
中国专利 :CN213069088U ,2021-04-27
[5]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高勇 ;
高小龙 ;
方潮 ;
包基寿 .
中国专利 :CN222482381U ,2025-02-14
[6]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
何帆 ;
郭玮 .
中国专利 :CN218350146U ,2023-01-20
[7]
一种集成电路芯片潮湿度检测装置 [P]. 
李鼎 ;
何璐 ;
陈永贵 ;
肖浩然 .
中国专利 :CN211401276U ,2020-09-01
[8]
集成电路芯片缺陷检测装置 [P]. 
苑学涛 .
中国专利 :CN209829618U ,2019-12-24
[9]
一种集成电路芯片温度检测装置 [P]. 
连泽亮 .
中国专利 :CN215527718U ,2022-01-14
[10]
一种集成电路芯片外观检测装置 [P]. 
李林 ;
蒋克斌 .
中国专利 :CN222353798U ,2025-01-14