一种集成电路芯片潮湿度检测装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921528451.7
申请日
2019-09-16
公开(公告)号
CN211401276U
公开(公告)日
2020-09-01
发明(设计)人
李鼎 何璐 陈永贵 肖浩然
申请人
申请人地址
410205 湖南省长沙市长沙高新开发区麓谷大道627号海创科技工业园B-1栋加速器生产车间805房
IPC主分类号
G01D2102
IPC分类号
代理机构
长沙大珂知识产权代理事务所(普通合伙) 43236
代理人
伍志祥
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
华文强 ;
陈贤槟 ;
马春游 .
中国专利 :CN221387586U ,2024-07-23
[2]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高莎莎 ;
陈绍伟 .
中国专利 :CN213069088U ,2021-04-27
[3]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
王军 ;
郑浩然 .
中国专利 :CN221595182U ,2024-08-23
[4]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
叶军海 ;
叶瑜劼 .
中国专利 :CN221261058U ,2024-07-02
[5]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
屠克佳 ;
刘俊南 ;
赵志权 .
中国专利 :CN120847145A ,2025-10-28
[6]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
何帆 ;
郭玮 .
中国专利 :CN218350146U ,2023-01-20
[7]
一种集成电路芯片粘着检测装置 [P]. 
张威 .
中国专利 :CN207396678U ,2018-05-22
[8]
一种集成电路芯片阻抗检测装置 [P]. 
杨德朝 .
中国专利 :CN221667912U ,2024-09-06
[9]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高勇 ;
高小龙 ;
方潮 ;
包基寿 .
中国专利 :CN222482381U ,2025-02-14
[10]
集成电路芯片缺陷检测装置 [P]. 
苑学涛 .
中国专利 :CN209829618U ,2019-12-24