一种集成电路芯片检测装置

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申请号
CN202222134121.8
申请日
2022-08-15
公开(公告)号
CN218350146U
公开(公告)日
2023-01-20
发明(设计)人
何帆 郭玮
申请人
申请人地址
201210 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张东路1158号2幢101-1室
IPC主分类号
G01N2195
IPC分类号
G01N2101
代理机构
佛山知正知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44483
代理人
魏巍
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
华文强 ;
陈贤槟 ;
马春游 .
中国专利 :CN221387586U ,2024-07-23
[2]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高莎莎 ;
陈绍伟 .
中国专利 :CN213069088U ,2021-04-27
[3]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
王军 ;
郑浩然 .
中国专利 :CN221595182U ,2024-08-23
[4]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高勇 ;
高小龙 ;
方潮 ;
包基寿 .
中国专利 :CN222482381U ,2025-02-14
[5]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
叶军海 ;
叶瑜劼 .
中国专利 :CN221261058U ,2024-07-02
[6]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
屠克佳 ;
刘俊南 ;
赵志权 .
中国专利 :CN120847145A ,2025-10-28
[7]
一种集成电路芯片潮湿度检测装置 [P]. 
李鼎 ;
何璐 ;
陈永贵 ;
肖浩然 .
中国专利 :CN211401276U ,2020-09-01
[8]
集成电路芯片缺陷检测装置 [P]. 
苑学涛 .
中国专利 :CN209829618U ,2019-12-24
[9]
一种集成电路芯片粘着检测装置 [P]. 
张威 .
中国专利 :CN207396678U ,2018-05-22
[10]
一种集成电路芯片阻抗检测装置 [P]. 
杨德朝 .
中国专利 :CN221667912U ,2024-09-06