一种集成电路芯片粘着检测装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201721443714.5
申请日
2017-11-01
公开(公告)号
CN207396678U
公开(公告)日
2018-05-22
发明(设计)人
张威
申请人
申请人地址
518109 广东省深圳市龙华新区大浪街道谭罗新二村布龙路52号安宏基科技大厦202
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
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法律状态
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共 50 条
[1]
一种集成电路芯片粘着检测装置 [P]. 
邹德顺 ;
王丽娜 .
中国专利 :CN209342863U ,2019-09-03
[2]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
王军 ;
郑浩然 .
中国专利 :CN221595182U ,2024-08-23
[3]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
叶军海 ;
叶瑜劼 .
中国专利 :CN221261058U ,2024-07-02
[4]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
华文强 ;
陈贤槟 ;
马春游 .
中国专利 :CN221387586U ,2024-07-23
[5]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高莎莎 ;
陈绍伟 .
中国专利 :CN213069088U ,2021-04-27
[6]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高勇 ;
高小龙 ;
方潮 ;
包基寿 .
中国专利 :CN222482381U ,2025-02-14
[7]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
何帆 ;
郭玮 .
中国专利 :CN218350146U ,2023-01-20
[8]
一种集成电路芯片潮湿度检测装置 [P]. 
李鼎 ;
何璐 ;
陈永贵 ;
肖浩然 .
中国专利 :CN211401276U ,2020-09-01
[9]
集成电路芯片缺陷检测装置 [P]. 
苑学涛 .
中国专利 :CN209829618U ,2019-12-24
[10]
一种集成电路芯片温度检测装置 [P]. 
连泽亮 .
中国专利 :CN215527718U ,2022-01-14