一种集成电路芯片检测装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202022281549.6
申请日
2020-10-14
公开(公告)号
CN213069088U
公开(公告)日
2021-04-27
发明(设计)人
高莎莎 陈绍伟
申请人
申请人地址
350000 福建省福州市高新区海西高新技术产业园高新苑B区54#楼南侧二层225室
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
屠克佳 ;
刘俊南 ;
赵志权 .
中国专利 :CN120847145A ,2025-10-28
[2]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
华文强 ;
陈贤槟 ;
马春游 .
中国专利 :CN221387586U ,2024-07-23
[3]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
何帆 ;
郭玮 .
中国专利 :CN218350146U ,2023-01-20
[4]
一种集成电路芯片潮湿度检测装置 [P]. 
李鼎 ;
何璐 ;
陈永贵 ;
肖浩然 .
中国专利 :CN211401276U ,2020-09-01
[5]
一种集成电路芯片阻抗检测装置 [P]. 
杨德朝 .
中国专利 :CN221667912U ,2024-09-06
[6]
一种集成电路芯片外观检测装置 [P]. 
李林 ;
蒋克斌 .
中国专利 :CN222353798U ,2025-01-14
[7]
一种集成电路芯片的检测装置 [P]. 
詹安娜 ;
黄巧芳 .
中国专利 :CN221860613U ,2024-10-18
[8]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
王军 ;
郑浩然 .
中国专利 :CN221595182U ,2024-08-23
[9]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高勇 ;
高小龙 ;
方潮 ;
包基寿 .
中国专利 :CN222482381U ,2025-02-14
[10]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
周建军 .
中国专利 :CN117471280A ,2024-01-30