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一种集成电路芯片检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311485072.5
申请日
:
2023-11-09
公开(公告)号
:
CN117471280A
公开(公告)日
:
2024-01-30
发明(设计)人
:
周建军
申请人
:
江苏芯丰集成电路有限公司
申请人地址
:
224015 江苏省盐城市盐都区张庄街道康庄大道双创园综合体1#厂房
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G01N21/95
G01N21/956
代理机构
:
北京广溢知识产权代理有限公司 16001
代理人
:
刘远昆
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
江苏省 盐城市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-20
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231109
2024-01-30
公开
公开
2024-04-12
授权
授权
共 50 条
[1]
一种集成电路芯片检测装置
[P].
周建军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏芯丰集成电路有限公司
江苏芯丰集成电路有限公司
周建军
.
中国专利
:CN117471280B
,2024-04-12
[2]
一种集成电路芯片检测装置
[P].
高莎莎
论文数:
0
引用数:
0
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0
高莎莎
;
陈绍伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈绍伟
.
中国专利
:CN213069088U
,2021-04-27
[3]
一种集成电路芯片的检测装置
[P].
詹安娜
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市希捷通科技有限公司
深圳市希捷通科技有限公司
詹安娜
;
黄巧芳
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市希捷通科技有限公司
深圳市希捷通科技有限公司
黄巧芳
.
中国专利
:CN221860613U
,2024-10-18
[4]
一种集成电路芯片检测装置
[P].
李风浪
论文数:
0
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0
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0
李风浪
;
李舒歆
论文数:
0
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0
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0
李舒歆
.
中国专利
:CN106226674A
,2016-12-14
[5]
一种集成电路芯片检测装置
[P].
华文强
论文数:
0
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0
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0
机构:
容泰半导体(江苏)有限公司
容泰半导体(江苏)有限公司
华文强
;
陈贤槟
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
容泰半导体(江苏)有限公司
容泰半导体(江苏)有限公司
陈贤槟
;
马春游
论文数:
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机构:
容泰半导体(江苏)有限公司
容泰半导体(江苏)有限公司
马春游
.
中国专利
:CN221387586U
,2024-07-23
[6]
一种集成电路芯片检测装置
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
王军
;
郑浩然
论文数:
0
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0
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0
机构:
遵义师范学院
遵义师范学院
郑浩然
.
中国专利
:CN221595182U
,2024-08-23
[7]
一种集成电路芯片检测装置
[P].
高勇
论文数:
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机构:
杭州杭定电子产品有限公司
杭州杭定电子产品有限公司
高勇
;
高小龙
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机构:
杭州杭定电子产品有限公司
杭州杭定电子产品有限公司
高小龙
;
方潮
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机构:
杭州杭定电子产品有限公司
杭州杭定电子产品有限公司
方潮
;
包基寿
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0
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机构:
杭州杭定电子产品有限公司
杭州杭定电子产品有限公司
包基寿
.
中国专利
:CN222482381U
,2025-02-14
[8]
一种集成电路芯片检测装置
[P].
叶军海
论文数:
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机构:
绍兴鹏芯电子科技有限公司
绍兴鹏芯电子科技有限公司
叶军海
;
叶瑜劼
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0
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机构:
绍兴鹏芯电子科技有限公司
绍兴鹏芯电子科技有限公司
叶瑜劼
.
中国专利
:CN221261058U
,2024-07-02
[9]
一种集成电路芯片检测装置
[P].
黄特伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
黄特伟
.
中国专利
:CN114236360A
,2022-03-25
[10]
一种集成电路芯片检测装置
[P].
屠克佳
论文数:
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引用数:
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机构:
上海浦壹电子科技有限公司
上海浦壹电子科技有限公司
屠克佳
;
刘俊南
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机构:
上海浦壹电子科技有限公司
上海浦壹电子科技有限公司
刘俊南
;
赵志权
论文数:
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机构:
上海浦壹电子科技有限公司
上海浦壹电子科技有限公司
赵志权
.
中国专利
:CN120847145A
,2025-10-28
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