一种集成电路芯片检测装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311485072.5
申请日
2023-11-09
公开(公告)号
CN117471280A
公开(公告)日
2024-01-30
发明(设计)人
周建军
申请人
江苏芯丰集成电路有限公司
申请人地址
224015 江苏省盐城市盐都区张庄街道康庄大道双创园综合体1#厂房
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01N21/95 G01N21/956
代理机构
北京广溢知识产权代理有限公司 16001
代理人
刘远昆
法律状态
实质审查的生效
国省代码
江苏省 盐城市
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共 50 条
[1]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
周建军 .
中国专利 :CN117471280B ,2024-04-12
[2]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高莎莎 ;
陈绍伟 .
中国专利 :CN213069088U ,2021-04-27
[3]
一种集成电路芯片的检测装置 [P]. 
詹安娜 ;
黄巧芳 .
中国专利 :CN221860613U ,2024-10-18
[4]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
李风浪 ;
李舒歆 .
中国专利 :CN106226674A ,2016-12-14
[5]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
华文强 ;
陈贤槟 ;
马春游 .
中国专利 :CN221387586U ,2024-07-23
[6]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
王军 ;
郑浩然 .
中国专利 :CN221595182U ,2024-08-23
[7]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高勇 ;
高小龙 ;
方潮 ;
包基寿 .
中国专利 :CN222482381U ,2025-02-14
[8]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
叶军海 ;
叶瑜劼 .
中国专利 :CN221261058U ,2024-07-02
[9]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
黄特伟 .
中国专利 :CN114236360A ,2022-03-25
[10]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
屠克佳 ;
刘俊南 ;
赵志权 .
中国专利 :CN120847145A ,2025-10-28