一种集成电路芯片检测装置

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专利类型
发明
申请号
CN201610865243.0
申请日
2016-09-25
公开(公告)号
CN106226674A
公开(公告)日
2016-12-14
发明(设计)人
李风浪 李舒歆
申请人
申请人地址
523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业工发区生产力大厦406
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
G01R102 G01R104 H01L2166
代理机构
北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246
代理人
连平
法律状态
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
华文强 ;
陈贤槟 ;
马春游 .
中国专利 :CN221387586U ,2024-07-23
[2]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高莎莎 ;
陈绍伟 .
中国专利 :CN213069088U ,2021-04-27
[3]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
王军 ;
郑浩然 .
中国专利 :CN221595182U ,2024-08-23
[4]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高勇 ;
高小龙 ;
方潮 ;
包基寿 .
中国专利 :CN222482381U ,2025-02-14
[5]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
周建军 .
中国专利 :CN117471280A ,2024-01-30
[6]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
叶军海 ;
叶瑜劼 .
中国专利 :CN221261058U ,2024-07-02
[7]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
黄特伟 .
中国专利 :CN114236360A ,2022-03-25
[8]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
周建军 .
中国专利 :CN117471280B ,2024-04-12
[9]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
屠克佳 ;
刘俊南 ;
赵志权 .
中国专利 :CN120847145A ,2025-10-28
[10]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
何帆 ;
郭玮 .
中国专利 :CN218350146U ,2023-01-20