学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
硅通孔容错电路和集成电路
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201821427928.8
申请日
:
2018-08-31
公开(公告)号
:
CN208655629U
公开(公告)日
:
2019-03-26
发明(设计)人
:
杨正杰
申请人
:
申请人地址
:
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号
:
H01L23528
IPC分类号
:
H01L2702
代理机构
:
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
:
袁礼君;阚梓瑄
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-03-26
授权
授权
共 50 条
[1]
硅通孔容错电路及方法、集成电路
[P].
杨正杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨正杰
.
中国专利
:CN109037192A
,2018-12-18
[2]
硅通孔检测电路和集成电路芯片
[P].
林祐贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林祐贤
.
中国专利
:CN208767296U
,2019-04-19
[3]
硅通孔检测电路及方法、集成电路芯片
[P].
林祐贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林祐贤
.
中国专利
:CN109037193A
,2018-12-18
[4]
三维集成电路中缺陷硅通孔的容错电路
[P].
裴颂伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
裴颂伟
;
张静东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张静东
;
金予
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金予
.
中国专利
:CN104900644B
,2015-09-09
[5]
硅通孔检测电路及集成电路
[P].
林祐贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林祐贤
.
中国专利
:CN209446727U
,2019-09-27
[6]
硅通孔检测电路及集成电路
[P].
林祐贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林祐贤
;
吕翼君
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吕翼君
;
杨正杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨正杰
.
中国专利
:CN209542774U
,2019-10-25
[7]
包括硅通孔的集成电路
[P].
郑然日
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
郑然日
;
金汉京
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金汉京
;
李承权
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
李承权
.
韩国专利
:CN120895560A
,2025-11-04
[8]
硅通孔检测电路及方法、集成电路
[P].
林祐贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林祐贤
.
中国专利
:CN111198316A
,2020-05-26
[9]
硅通孔检测电路及方法、集成电路
[P].
林祐贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
林祐贤
.
中国专利
:CN111198316B
,2025-04-04
[10]
集成电路芯片和集成电路
[P].
曹旺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曹旺
;
陆健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆健
;
张敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张敏
;
高庆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高庆
.
中国专利
:CN210403720U
,2020-04-24
←
1
2
3
4
5
→