适用于1553总线协议的内建自测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510976281.9

申请日：

2015-12-23

公开(公告)号：

CN105572565A

公开(公告)日：

2016-05-11

发明(设计)人：

蔡洁明印琴刘士全

申请人：

申请人地址：

214035 江苏省无锡市滨湖区惠河路5号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

总装工程兵科研一所专利服务中心 32002

代理人：

杨立秋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-05-11	公开	公开
2018-08-24	授权	授权
2016-06-08	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101663903990 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2015109762819 申请日:20151223

共 50 条

[1]

内建自测试电路 [P].

李鸣 .

中国专利 :CN104751896A ,2015-07-01

[2]

内建自测试引擎 [P].

王燕 ;

洪亮 .

中国专利 :CN109102838A ,2018-12-28

[3]

存储器芯片内建自测试电路装置 [P].

杨正杰 .

中国专利 :CN208655247U ,2019-03-26

[4]

用于∑-△调制器的内建自测试电路 [P].

方舟 ;

黄松 ;

梁超 ;

刘毅峰 ;

张旺根 .

中国专利 :CN107544020B ,2018-01-05

[5]

适用于各类周期性测试算法的存储器内建自测试电路 [P].

李鸿雁 ;

郭建华 .

中国专利 :CN106409343B ,2017-02-15

[6]

一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P].

孙圆圆 ;

王佳 ;

张瑞 .

中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10

[7]

存储器内建自测试电路 [P].

李鸣 .

中国专利 :CN102903393B ,2013-01-30

[8]

逻辑内建自测试系统 [P].

唐飞 .

中国专利 :CN102565685A ,2012-07-11

[9]

适用于高速1553总线协议控制的集成电路 [P].

魏敬和 ;

邹家轩 ;

钱黎明 ;

张荣 ;

张科新 .

中国专利 :CN102647320B ,2012-08-22

[10]

适用于高速1553总线协议控制的集成电路 [P].

魏敬和 ;

邹家轩 ;

钱黎明 ;

张荣 ;

张科新 .

中国专利 :CN202548629U ,2012-11-21

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