用于∑-△调制器的内建自测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610491425.6

申请日：

2016-06-29

公开(公告)号：

CN107544020B

公开(公告)日：

2018-01-05

发明(设计)人：

方舟黄松梁超刘毅峰张旺根

申请人：

申请人地址：

美国得克萨斯

IPC主分类号：

G01R313187

IPC分类号：

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038

代理人：

秦晨

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-07-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/3187 申请日:20160629
2021-02-05	授权	授权
2018-01-05	公开	公开

共 50 条

[1]

内建自测试电路 [P].

李鸣 .

中国专利 :CN104751896A ,2015-07-01

[2]

用于内建自测试的方法和设备 [P].

陆明 ;

姜培 ;

马建旭 ;

白睿 ;

陈学峰 ;

王俊成 .

中国专利 :CN110446935B ,2019-11-12

[3]

存储器内建自测试电路 [P].

李鸣 .

中国专利 :CN102903393B ,2013-01-30

[4]

一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P].

孙圆圆 ;

王佳 ;

张瑞 .

中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10

[5]

内建自测试引擎 [P].

王燕 ;

洪亮 .

中国专利 :CN109102838A ,2018-12-28

[6]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372A ,2025-03-25

[7]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372B ,2025-10-21

[8]

适用于1553总线协议的内建自测试电路 [P].

蔡洁明 ;

印琴 ;

刘士全 .

中国专利 :CN105572565A ,2016-05-11

[9]

用于闪存的内建自测试电路、系统及方法 [P].

刘峰 ;

张迪宇 .

中国专利 :CN107068196A ,2017-08-18

[10]

逻辑内建自测试系统 [P].

唐飞 .

中国专利 :CN102565685A ,2012-07-11

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