芯片检测装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201920641407.0
申请日
2019-05-06
公开(公告)号
CN210283623U
公开(公告)日
2020-04-10
发明(设计)人
不公告发明人
申请人
申请人地址
广东省广州市高新技术产业开发区科丰路31号华南新材料创新园G10栋202号
IPC主分类号
B41J2175
IPC分类号
G03G1508
代理机构
北京景闻知识产权代理有限公司 11742
代理人
李芳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片检测装置 [P]. 
钟党新 .
中国专利 :CN209296872U ,2019-08-23
[2]
芯片检测装置 [P]. 
朱陈焜 .
中国专利 :CN205958701U ,2017-02-15
[3]
芯片检测装置 [P]. 
萧汉璁 ;
彭及盈 ;
林煜庭 ;
郑惠如 ;
许智闵 ;
欧士铨 ;
张文政 ;
苏敏福 .
中国专利 :CN221176154U ,2024-06-18
[4]
芯片检测装置 [P]. 
马建荣 ;
武俊杰 ;
郭竑源 ;
王卫东 ;
马健 ;
魏富龙 ;
朱姗姗 ;
豆粉娜 .
中国专利 :CN201130235Y ,2008-10-08
[5]
芯片检测装置 [P]. 
蔡建荣 ;
吴兆希 ;
罗俊 ;
邢宗锋 ;
岑政 ;
代薇薇 ;
石金艳 ;
叶思楠 .
中国专利 :CN220855082U ,2024-04-26
[6]
芯片检测装置 [P]. 
李桂萍 ;
周维 ;
孙学进 .
中国专利 :CN211426703U ,2020-09-04
[7]
芯片检测装置 [P]. 
林东宁 ;
张强 .
中国专利 :CN2903999Y ,2007-05-23
[8]
芯片检测装置 [P]. 
程志 ;
许秀冬 .
中国专利 :CN209312727U ,2019-08-27
[9]
芯片检测置物盒及芯片检测装置 [P]. 
黄然 ;
江逸夫 ;
王聪 .
中国专利 :CN214844849U ,2021-11-23
[10]
芯片性能检测系统及其芯片性能检测装置 [P]. 
陈文志 ;
黎理明 ;
黎理杰 .
中国专利 :CN213903719U ,2021-08-06