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芯片检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201822241083.X
申请日
:
2018-12-28
公开(公告)号
:
CN209312727U
公开(公告)日
:
2019-08-27
发明(设计)人
:
程志
许秀冬
申请人
:
申请人地址
:
243000 安徽省马鞍山市郑蒲港新区蒲建标准化厂房3#
IPC主分类号
:
H01L2167
IPC分类号
:
H01L21677
代理机构
:
重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217
代理人
:
成艳
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-08-27
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片检测装置
[P].
钟党新
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钟党新
.
中国专利
:CN209296872U
,2019-08-23
[2]
芯片检测装置
[P].
朱陈焜
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朱陈焜
.
中国专利
:CN205958701U
,2017-02-15
[3]
芯片检测装置
[P].
萧汉璁
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机构:
久元电子股份有限公司
久元电子股份有限公司
萧汉璁
;
彭及盈
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机构:
久元电子股份有限公司
久元电子股份有限公司
彭及盈
;
林煜庭
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久元电子股份有限公司
久元电子股份有限公司
林煜庭
;
郑惠如
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久元电子股份有限公司
久元电子股份有限公司
郑惠如
;
许智闵
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久元电子股份有限公司
久元电子股份有限公司
许智闵
;
欧士铨
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久元电子股份有限公司
久元电子股份有限公司
欧士铨
;
张文政
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机构:
久元电子股份有限公司
久元电子股份有限公司
张文政
;
苏敏福
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机构:
久元电子股份有限公司
久元电子股份有限公司
苏敏福
.
中国专利
:CN221176154U
,2024-06-18
[4]
芯片检测装置
[P].
马建荣
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马建荣
;
武俊杰
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武俊杰
;
郭竑源
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郭竑源
;
王卫东
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王卫东
;
马健
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马健
;
魏富龙
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魏富龙
;
朱姗姗
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朱姗姗
;
豆粉娜
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豆粉娜
.
中国专利
:CN201130235Y
,2008-10-08
[5]
芯片检测装置
[P].
蔡建荣
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机构:
中国电子科技集团公司第二十四研究所
中国电子科技集团公司第二十四研究所
蔡建荣
;
吴兆希
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中国电子科技集团公司第二十四研究所
中国电子科技集团公司第二十四研究所
吴兆希
;
罗俊
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中国电子科技集团公司第二十四研究所
中国电子科技集团公司第二十四研究所
罗俊
;
邢宗锋
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中国电子科技集团公司第二十四研究所
中国电子科技集团公司第二十四研究所
邢宗锋
;
岑政
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中国电子科技集团公司第二十四研究所
中国电子科技集团公司第二十四研究所
岑政
;
代薇薇
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中国电子科技集团公司第二十四研究所
中国电子科技集团公司第二十四研究所
代薇薇
;
石金艳
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中国电子科技集团公司第二十四研究所
中国电子科技集团公司第二十四研究所
石金艳
;
叶思楠
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机构:
中国电子科技集团公司第二十四研究所
中国电子科技集团公司第二十四研究所
叶思楠
.
中国专利
:CN220855082U
,2024-04-26
[6]
芯片检测装置
[P].
李桂萍
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李桂萍
;
周维
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周维
;
孙学进
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孙学进
.
中国专利
:CN211426703U
,2020-09-04
[7]
芯片检测装置
[P].
不公告发明人
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不公告发明人
.
中国专利
:CN210283623U
,2020-04-10
[8]
芯片检测装置
[P].
林东宁
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林东宁
;
张强
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张强
.
中国专利
:CN2903999Y
,2007-05-23
[9]
一种加工车间用电子芯片检测装置
[P].
不公告发明人
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不公告发明人
.
中国专利
:CN212341375U
,2021-01-12
[10]
芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法
[P].
周培松
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
周培松
;
许燚赟
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
许燚赟
;
张文昊
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
张文昊
.
中国专利
:CN117110292B
,2025-08-12
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