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一种版图处理方法及测试芯片设计方法

被引：0
申请号：
CN202211410579.X
申请日：
2022-11-11
公开(公告)号：
CN115618799A
公开(公告)日：
2023-01-17
发明(设计)人：
尤炎 杨璐丹 潘伟伟 万晶
申请人：
申请人地址：
310012 浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座
IPC主分类号：
G06F30398
IPC分类号：
代理机构：
江苏坤象律师事务所 32393
代理人：
朱冀梁;赵新民
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2023-02-10 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/398 申请日:20221111
2023-01-17 公开 公开
共 50 条
[1]
一种芯片版图图像处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
倪婉萍 .
中国专利 :CN120297216A ,2025-07-11
[2]
芯片版图设计方法 [P]. 
周喆 .
中国专利 :CN105373668B ,2016-03-02
[3]
版图结构及芯片的测试方法 [P]. 
张黎 .
中国专利 :CN113097205A ,2021-07-09
[4]
版图结构及芯片的测试方法 [P]. 
张黎 .
中国专利 :CN113097205B ,2024-06-07
[5]
一种芯片版图结构及设计方法 [P]. 
陈建兴 ;
张冬松 .
中国专利 :CN119740540A ,2025-04-01
[6]
版图效应测试结构、版图效应测试芯片及测试方法 [P]. 
郁扬 ;
雷传震 ;
魏路瑶 ;
钱茂程 ;
王代平 .
中国专利 :CN118053853A ,2024-05-17
[7]
一种芯片设计版图优化方法 [P]. 
刘钢 ;
曾剑敏 .
中国专利 :CN119089853A ,2024-12-06
[8]
一种测试芯片版图的生成方法 [P]. 
刘得金 ;
郑勇军 ;
欧阳旭 ;
潘伟伟 .
中国专利 :CN103150430A ,2013-06-12
[9]
一种测试芯片版图的生成方法 [P]. 
杨景丞 .
中国专利 :CN113919281A ,2022-01-11
[10]
芯片版图设计规则检查方法 [P]. 
周喆 .
中国专利 :CN109885888A ,2019-06-14
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