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测试方法以及测试装置
被引:0
申请号
:
CN202211202936.3
申请日
:
2022-09-29
公开(公告)号
:
CN115495367A
公开(公告)日
:
2022-12-20
发明(设计)人
:
陈明坤
申请人
:
申请人地址
:
100005 北京市东城区建国门内大街69号
IPC主分类号
:
G06F1136
IPC分类号
:
G06V2062
代理机构
:
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
:
李敏灵;刘芳
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-01-03
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220929
2022-12-20
公开
公开
共 50 条
[1]
测试装置以及测试方法
[P].
张锡波
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
宁波新胜中压电器有限公司
宁波新胜中压电器有限公司
张锡波
;
李龙
论文数:
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0
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0
机构:
宁波新胜中压电器有限公司
宁波新胜中压电器有限公司
李龙
;
应建国
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机构:
宁波新胜中压电器有限公司
宁波新胜中压电器有限公司
应建国
;
刘峰
论文数:
0
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0
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0
机构:
宁波新胜中压电器有限公司
宁波新胜中压电器有限公司
刘峰
;
论文数:
引用数:
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机构:
彭慧
.
中国专利
:CN118425712A
,2024-08-02
[2]
测试装置、测试设备以及测试方法
[P].
吴贵阳
论文数:
0
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0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
吴贵阳
;
周颖达
论文数:
0
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0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
周颖达
;
李鑫洋
论文数:
0
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0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
李鑫洋
;
厉辉
论文数:
0
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0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
厉辉
.
中国专利
:CN119993853A
,2025-05-13
[3]
测试装置、测试设备以及测试方法
[P].
吴贵阳
论文数:
0
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机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
吴贵阳
;
周颖达
论文数:
0
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0
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机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
周颖达
;
李鑫洋
论文数:
0
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0
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机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
李鑫洋
;
厉辉
论文数:
0
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0
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
厉辉
.
中国专利
:CN119993853B
,2025-10-17
[4]
测试方法、测试装置、测试设备以及介质
[P].
旷亚和
论文数:
0
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旷亚和
;
吕博良
论文数:
0
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吕博良
;
程佩哲
论文数:
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程佩哲
;
叶红
论文数:
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0
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0
叶红
.
中国专利
:CN111414305A
,2020-07-14
[5]
测试装置以及测试方法
[P].
饭岛匡史
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
日置电机株式会社
日置电机株式会社
饭岛匡史
;
木村英明
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日置电机株式会社
日置电机株式会社
木村英明
.
日本专利
:CN120265998A
,2025-07-04
[6]
测试装置以及测试方法
[P].
大空聡
论文数:
0
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0
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大空聡
;
中川哲郎
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中川哲郎
;
角田慎
论文数:
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角田慎
;
高岩伸贤
论文数:
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0
高岩伸贤
.
中国专利
:CN100559204C
,2006-08-16
[7]
测试装置以及测试方法
[P].
张藏文
论文数:
0
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张藏文
;
朱鹏
论文数:
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0
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0
朱鹏
.
中国专利
:CN107863302A
,2018-03-30
[8]
测试装置、以及测试方法
[P].
大岛直哉
论文数:
0
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0
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0
机构:
日挥株式会社
日挥株式会社
大岛直哉
.
日本专利
:CN119654554A
,2025-03-18
[9]
测试装置以及测试方法
[P].
丘向忠
论文数:
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0
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丘向忠
;
梁金
论文数:
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0
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梁金
.
中国专利
:CN101520372A
,2009-09-02
[10]
测试装置以及测试方法
[P].
何羽轩
论文数:
0
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0
机构:
新唐科技股份有限公司
新唐科技股份有限公司
何羽轩
.
中国专利
:CN120446702A
,2025-08-08
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