一种IC测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820590358.8

申请日：

2018-04-24

公开(公告)号：

CN208421158U

公开(公告)日：

2019-01-22

发明(设计)人：

杨飞

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区西乡街道流塘大厦208室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R102 G01R104 G01R1073

代理机构：

深圳市博太联众专利代理事务所(特殊普通合伙) 44354

代理人：

郭晓敏

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-22	授权	授权
2022-04-08	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20180424 授权公告日:20190122 终止日期:20210424

共 50 条

[1]

一种自动IC芯片测试治具 [P].

蒙红花 .

中国专利 :CN205562747U ,2016-09-07

[2]

一种IC芯片测试治具 [P].

廖炳隆 .

中国专利 :CN206832951U ,2018-01-02

[3]

一种IC芯片测试治具 [P].

李国瑞 .

中国专利 :CN205080162U ,2016-03-09

[4]

一种IC芯片测试治具 [P].

邢小亮 .

中国专利 :CN213210378U ,2021-05-14

[5]

一种IC芯片测试治具 [P].

钟依玲 .

中国专利 :CN207742087U ,2018-08-17

[6]

一种IC功能测试治具 [P].

阚磊 .

中国专利 :CN206975175U ,2018-02-06

[7]

IC测试治具 [P].

王荣 ;

高炳锋 .

中国专利 :CN201075114Y ,2008-06-18

[8]

一种新型IC芯片测试治具 [P].

陶品岳 ;

陶柳 ;

杨镇武 .

中国专利 :CN222379737U ,2025-01-21

[9]

一种测试治具 [P].

赵可宁 ;

程子洋 .

中国专利 :CN207215969U ,2018-04-10

[10]

一种测试治具 [P].

张华勇 .

中国专利 :CN220399586U ,2024-01-26

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