半导体装置和电位测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780068778.8

申请日：

2017-11-17

公开(公告)号：

CN109952505A

公开(公告)日：

2019-06-28

发明(设计)人：

佐藤正启亀谷真知子小木纯加藤祐理

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01N27416

IPC分类号：

C25D712 C25D2112 G01R2912

代理机构：

北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290

代理人：

陈桂香;曹正建

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-12-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/416 申请日:20171117
2019-06-28	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体装置和电位测量装置 [P].

佐藤正启 ;

亀谷真知子 ;

小木纯 ;

加藤祐理 .

中国专利 :CN110023746B ,2019-07-16

[2]

半导体装置和细胞电位测量设备 [P].

加藤祐理 ;

大池祐辅 .

中国专利 :CN109313158B ,2019-02-05

[3]

半导体器件和电位测量装置 [P].

加藤祐理 .

日本专利 :CN111066240B ,2024-03-19

[4]

半导体器件和电位测量装置 [P].

加藤祐理 .

中国专利 :CN111066240A ,2020-04-24

[5]

半导体装置以及测量装置 [P].

岩佐洋助 .

中国专利 :CN103684260A ,2014-03-26

[6]

半导体装置和电容测量方法 [P].

山下恭司 ;

海本博之 ;

小林睦 ;

大谷一弘 ;

国清辰也 ;

永久克己 .

中国专利 :CN1462068A ,2003-12-17

[7]

半导体装置和半导体存储装置 [P].

长田健一 ;

樋口久幸 ;

石桥孝一郎 .

中国专利 :CN1516195A ,2004-07-28

[8]

半导体电路、半导体装置以及电位供给电路 [P].

岩佐洋助 .

中国专利 :CN104954007B ,2015-09-30

[9]

半导体装置和半导体系统 [P].

朴埈彻 ;

金范洙 ;

鱼贤圭 ;

姜尚协 ;

金瑳童 ;

卞山镐 ;

李进喆 ;

崔伦竞 .

中国专利 :CN105404410B ,2016-03-16

[10]

半导体装置和半导体装置的制造方法 [P].

佐佐木直人 ;

斋藤谦一 ;

林优佑 ;

山田敦彦 ;

重歳卓志 ;

大井琢矢 .

中国专利 :CN114846610A ,2022-08-02

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