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X射线荧光分析仪系统和用于对浆料中的感兴趣元素执行X射线荧光分析的方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201980041872.3
申请日：
2019-02-18
公开(公告)号：
CN112313503A
公开(公告)日：
2021-02-02
发明(设计)人：
H·西皮拉
A·佩里
T·科斯基宁
申请人：
申请人地址：
芬兰埃斯波
IPC主分类号：
G01N23207
IPC分类号：
G01N23223
G21K106
G01T116
C22B302
代理机构：
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人：
聂慧荃;郑特强
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-02-23 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/207 申请日:20190218 |
| 2021-02-02 | 公开 | 公开 |