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X射线荧光分析仪系统和用于对浆料中的感兴趣元素执行X射线荧光分析的方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201980041872.3
申请日：
2019-02-18
公开(公告)号：
CN112313503A
公开(公告)日：
2021-02-02
发明(设计)人：
H·西皮拉 A·佩里 T·科斯基宁
申请人：
申请人地址：
芬兰埃斯波
IPC主分类号：
G01N23207
IPC分类号：
G01N23223 G21K106 G01T116 C22B302
代理机构：
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人：
聂慧荃;郑特强
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-02-23 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/207 申请日:20190218
2021-02-02 公开 公开
共 50 条
[1]
X射线荧光分析仪系统和用于对浆料中的感兴趣元素执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
H·西皮拉 ;
A·佩里 ;
T·科斯基宁 .
:CN112313503B ,2024-07-05
[2]
X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
T·科斯基宁 ;
A·佩里 ;
H·西皮拉 .
:CN112292593B ,2024-10-25
[3]
X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
T·科斯基宁 ;
A·佩里 ;
H·西皮拉 .
中国专利 :CN112292593A ,2021-01-29
[4]
X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
T·科斯基宁 ;
A·佩里 ;
H·西皮拉 .
:CN112313505B ,2025-01-03
[5]
X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
T·科斯基宁 ;
A·佩里 ;
H·西皮拉 .
中国专利 :CN112313505A ,2021-02-02
[6]
具有多个测量通道的X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
T·科斯基宁 ;
A·佩里 ;
H·西皮拉 .
中国专利 :CN112313506A ,2021-02-02
[7]
具有多个测量通道的X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
T·科斯基宁 ;
A·佩里 ;
H·西皮拉 .
:CN112313506B ,2024-10-25
[8]
X射线荧光分析仪 [P]. 
苏显月 ;
闫晓晖 ;
拉海忠 ;
王莉菲 ;
刘慧娟 .
中国专利 :CN222994369U ,2025-06-17
[9]
X射线荧光分析仪 [P]. 
朴正权 .
中国专利 :CN113950621A ,2022-01-18
[10]
荧光X射线分析仪、荧光X射线分析方法及分析程序 [P]. 
臼井康博 .
中国专利 :CN1837796A ,2006-09-27
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