互补金属氧化物半导体比较器

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专利类型
发明
申请号
CN200410065841.7
申请日
2004-12-22
公开(公告)号
CN1622459A
公开(公告)日
2005-06-01
发明(设计)人
吴建辉 吴光林 茆邦琴 饶进 时龙兴
申请人
申请人地址
210096江苏省南京市四牌楼2号
IPC主分类号
H03K524
IPC分类号
H03F345 H03M134
代理机构
南京经纬专利商标代理有限公司
代理人
陆志斌
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
互补金属氧化物半导体 [P]. 
欧阳齐庆 ;
马西莫·菲谢蒂 .
中国专利 :CN101326631B ,2008-12-17
[2]
互补金属氧化物半导体成像器件 [P]. 
詹弗瑞·J·扎尔诺斯基 ;
马修·A·培斯 .
中国专利 :CN1200555C ,2001-05-02
[3]
互补金属氧化物半导体电路 [P]. 
卢超群 ;
杜文仙 .
中国专利 :CN119108400A ,2024-12-10
[4]
互补金属氧化物半导体开关 [P]. 
陈越洋 ;
王兴华 ;
仲顺安 ;
赵显利 .
中国专利 :CN101783667A ,2010-07-21
[5]
互补金属氧化物半导体双模环形计数器 [P]. 
王振华 .
中国专利 :CN1292948A ,2001-04-25
[6]
互补金属氧化物半导体输出电路 [P]. 
木村亮平 .
中国专利 :CN1378287A ,2002-11-06
[7]
金属氧化物半导体晶体管和互补金属氧化物半导体电路 [P]. 
卢超群 .
中国专利 :CN118630037A ,2024-09-10
[8]
半导体器件和互补金属氧化物半导体半导体器件 [P]. 
柳青 ;
P·卡雷 ;
N·劳贝特 .
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[9]
互补金属氧化物半导体及其组合元件 [P]. 
胡珍仪 ;
孙文堂 .
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[10]
互补金属氧化物半导体固态成像装置 [P]. 
丸山康 .
中国专利 :CN101894850B ,2010-11-24