测试座单元

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201780014097.3
申请日
2017-03-28
公开(公告)号
CN108885227B
公开(公告)日
2018-11-23
发明(设计)人
孙樟烈
申请人
申请人地址
韩国釜山市江西区美音产团路105弄10号(邮递码:46748)
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
罗英;臧建明
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试座(芯片测试座) [P]. 
李军 ;
李天雨 .
中国专利 :CN308470272S ,2024-02-13
[2]
TF卡测试座 [P]. 
马现通 .
中国专利 :CN207866867U ,2018-09-14
[3]
TF卡测试座 [P]. 
马现通 ;
刘熙胖 ;
王凯霖 ;
彭金辉 ;
石淑英 ;
苏庆会 ;
穆佩红 .
中国专利 :CN108181489A ,2018-06-19
[4]
测试座 [P]. 
张光荣 ;
何巧丽 .
中国专利 :CN300790685D ,2008-06-11
[5]
测试座 [P]. 
张倍铭 .
中国专利 :CN105588957B ,2016-05-18
[6]
测试座 [P]. 
叶柏汉 ;
孙家彬 .
中国专利 :CN220584352U ,2024-03-12
[7]
测试座 [P]. 
周世傑 ;
龚志祥 .
中国专利 :CN205679709U ,2016-11-09
[8]
测试座 [P]. 
郑永倍 ;
金钟元 ;
俞恩智 ;
金炯俊 .
韩国专利 :CN114341652B ,2025-02-07
[9]
测试座 [P]. 
叶柏汉 ;
孙家彬 .
中国专利 :CN119104868A ,2024-12-10
[10]
测试座 [P]. 
吴士军 .
中国专利 :CN306302033S ,2021-01-29