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刻蚀终点检测方法及装置
被引:0
申请号
:
CN202210203194.X
申请日
:
2022-03-02
公开(公告)号
:
CN114582699A
公开(公告)日
:
2022-06-03
发明(设计)人
:
常晓阳
王新河
林晓阳
赵巍胜
申请人
:
申请人地址
:
100191 北京市海淀区学院路37号
IPC主分类号
:
H01J3732
IPC分类号
:
H01L2166
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
:
叶明川;董骁毅
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-06-21
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/32 申请日:20220302
2022-06-03
公开
公开
共 50 条
[1]
刻蚀终点检测方法及装置
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
常晓阳
;
论文数:
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机构:
王新河
;
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机构:
林晓阳
;
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机构:
赵巍胜
.
中国专利
:CN114582699B
,2024-11-05
[2]
刻蚀终点检测方法及装置
[P].
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机构:
常晓阳
;
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机构:
王新河
;
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机构:
林晓阳
;
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机构:
赵巍胜
.
中国专利
:CN114582700B
,2024-11-19
[3]
刻蚀终点检测方法及装置
[P].
常晓阳
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常晓阳
;
王新河
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王新河
;
林晓阳
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林晓阳
;
赵巍胜
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赵巍胜
.
中国专利
:CN114582700A
,2022-06-03
[4]
刻蚀终点检测方法
[P].
罗永坚
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罗永坚
;
张颂周
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张颂周
;
任昱
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任昱
;
朱骏
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朱骏
;
吕煜坤
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吕煜坤
;
张旭升
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张旭升
.
中国专利
:CN104392946A
,2015-03-04
[5]
刻蚀终点检测方法及装置
[P].
林晓阳
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林晓阳
;
王新河
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王新河
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常晓阳
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常晓阳
;
李燊
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李燊
;
赵巍胜
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赵巍胜
.
中国专利
:CN114724915A
,2022-07-08
[6]
刻蚀终点检测方法及装置
[P].
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机构:
林晓阳
;
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机构:
王新河
;
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机构:
常晓阳
;
李燊
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机构:
北京航空航天大学
北京航空航天大学
李燊
;
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机构:
赵巍胜
.
中国专利
:CN114724915B
,2024-12-13
[7]
刻蚀终点检测方法及装置
[P].
车翰宣
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机构:
上海传芯半导体有限公司
上海传芯半导体有限公司
车翰宣
;
金钟洙
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机构:
上海传芯半导体有限公司
上海传芯半导体有限公司
金钟洙
;
高潇嫚
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机构:
上海传芯半导体有限公司
上海传芯半导体有限公司
高潇嫚
.
中国专利
:CN117894717A
,2024-04-16
[8]
一种等离子体刻蚀终点检测系统及刻蚀终点检测方法
[P].
方铭国
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机构:
深圳泰研半导体装备有限公司
深圳泰研半导体装备有限公司
方铭国
.
中国专利
:CN121215542A
,2025-12-26
[9]
一种等离子体刻蚀终点检测系统及刻蚀终点检测方法
[P].
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机构:
牛夷
;
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机构:
姜晶
;
陈浩林
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
陈浩林
;
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机构:
李璇
;
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机构:
李志强
;
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机构:
王超
.
中国专利
:CN117451636A
,2024-01-26
[10]
终点检测方法及终点检测装置
[P].
山下武志
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山下武志
;
山口峰生
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山口峰生
.
中国专利
:CN1306568C
,2005-02-02
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