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刻蚀终点检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201410652851.4
申请日
:
2014-11-17
公开(公告)号
:
CN104392946A
公开(公告)日
:
2015-03-04
发明(设计)人
:
罗永坚
张颂周
任昱
朱骏
吕煜坤
张旭升
申请人
:
申请人地址
:
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
H01J3732
代理机构
:
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275
代理人
:
吴世华;林彦之
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2015-04-01
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101603709912 IPC(主分类):H01L 21/66 专利申请号:2014106528514 申请日:20141117
2015-03-04
公开
公开
2017-06-23
授权
授权
共 50 条
[1]
刻蚀终点检测系统及方法
[P].
杨剑
论文数:
0
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0
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0
机构:
广东芯粤能半导体有限公司
广东芯粤能半导体有限公司
杨剑
;
杨俊
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机构:
广东芯粤能半导体有限公司
广东芯粤能半导体有限公司
杨俊
;
梁晓明
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机构:
广东芯粤能半导体有限公司
广东芯粤能半导体有限公司
梁晓明
;
冯锐
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机构:
广东芯粤能半导体有限公司
广东芯粤能半导体有限公司
冯锐
;
朱普磊
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机构:
广东芯粤能半导体有限公司
广东芯粤能半导体有限公司
朱普磊
.
中国专利
:CN118352215A
,2024-07-16
[2]
一种等离子体刻蚀终点检测系统及刻蚀终点检测方法
[P].
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机构:
牛夷
;
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机构:
姜晶
;
陈浩林
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
陈浩林
;
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机构:
李璇
;
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机构:
李志强
;
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机构:
王超
.
中国专利
:CN117451636A
,2024-01-26
[3]
侧墙刻蚀终点检测优化方法
[P].
刘周
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
刘周
.
中国专利
:CN119089172A
,2024-12-06
[4]
刻蚀终点检测方法及装置
[P].
常晓阳
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常晓阳
;
王新河
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王新河
;
林晓阳
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0
林晓阳
;
赵巍胜
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赵巍胜
.
中国专利
:CN114582699A
,2022-06-03
[5]
刻蚀终点检测方法及装置
[P].
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机构:
常晓阳
;
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机构:
王新河
;
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机构:
林晓阳
;
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机构:
赵巍胜
.
中国专利
:CN114582699B
,2024-11-05
[6]
一种等离子体刻蚀终点检测系统及刻蚀终点检测方法
[P].
方铭国
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机构:
深圳泰研半导体装备有限公司
深圳泰研半导体装备有限公司
方铭国
.
中国专利
:CN121215542A
,2025-12-26
[7]
刻蚀终点检测设备
[P].
张黎明
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
张黎明
;
丁亮亮
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
丁亮亮
;
肖亦然
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
肖亦然
;
郭军涛
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
郭军涛
;
云燕午
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上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
云燕午
;
唐凯
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
唐凯
.
中国专利
:CN309346134S
,2025-06-20
[8]
刻蚀终点检测设备
[P].
张黎明
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
张黎明
;
丁亮亮
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
丁亮亮
;
肖亦然
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
肖亦然
;
郭军涛
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
郭军涛
;
云燕午
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
云燕午
;
唐凯
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机构:
上海车仪田科技有限公司
上海车仪田科技有限公司
唐凯
.
中国专利
:CN309478657S
,2025-09-05
[9]
栅极刻蚀方法、栅极刻蚀终点检测方法与系统
[P].
马擎天
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马擎天
;
刘乒
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刘乒
;
张海洋
论文数:
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0
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张海洋
.
中国专利
:CN100576452C
,2008-12-24
[10]
刻蚀终点检测方法及装置
[P].
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机构:
常晓阳
;
论文数:
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机构:
王新河
;
论文数:
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机构:
林晓阳
;
论文数:
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机构:
赵巍胜
.
中国专利
:CN114582700B
,2024-11-19
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