智能X光检查装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821632926.2

申请日：

2018-10-09

公开(公告)号：

CN208932355U

公开(公告)日：

2019-06-04

发明(设计)人：

周爱琳

申请人：

申请人地址：

510000 广东省广州市天河区中山大道西1138号1514房

IPC主分类号：

B65G3700

IPC分类号：

B65G4764 B65G2304 B65G4308

代理机构：

广州市深研专利事务所 44229

代理人：

张喜安

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-04	授权	授权

共 50 条

[1]

X光检查装置 [P].

栉引敬嗣 .

中国专利 :CN1932492A ,2007-03-21

[2]

X光屏蔽装置及X光检查装置 [P].

方明 .

中国专利 :CN212788526U ,2021-03-26

[3]

一种X光检查装置 [P].

徐晓春 ;

张万勤 .

中国专利 :CN204484145U ,2015-07-22

[4]

一种X光检查装置 [P].

周宇 ;

靖开渝 ;

王爽 ;

林静 ;

刘涛 ;

牟莉 .

中国专利 :CN204445915U ,2015-07-08

[5]

具有摄像头的X光屏蔽装置及X光检查装置 [P].

方明 .

中国专利 :CN212698910U ,2021-03-16

[6]

X光检查机 [P].

徐地华 ;

梅领亮 ;

吴敏 .

中国专利 :CN301531990S ,2011-04-27

[7]

X光检查设备 [P].

约翰·廷吉 ;

威廉·T·瓦尔克 ;

菲丽·金 ;

西蒙·怀特 ;

凯特·斯图尔特 .

中国专利 :CN106461577A ,2017-02-22

[8]

X光检查机 [P].

梅领亮 ;

徐地华 ;

吴敏 .

中国专利 :CN301185624S ,2010-05-05

[9]

基于高度传感器的X光屏蔽装置及X光检查装置 [P].

方明 .

中国专利 :CN212788527U ,2021-03-26

[10]

用于检查半导体晶片的X光检查设备 [P].

威廉·T·瓦尔克 ;

西蒙·怀特 .

中国专利 :CN106164656A ,2016-11-23

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