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一种电迁移测试结构

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910356005.0
申请日：
2019-04-29
公开(公告)号：
CN110071053A
公开(公告)日：
2019-07-30
发明(设计)人：
朱月芹 周柯 陈雷刚
申请人：
申请人地址：
201315 上海市浦东新区良腾路6号
IPC主分类号：
H01L2166
IPC分类号：
代理机构：
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人：
屈蘅
法律状态：
发明专利申请公布后的驳回
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-03-18 发明专利申请公布后的驳回 发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L 21/66 申请公布日:20190730
2019-07-30 公开 公开
2019-08-23 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20190429
共 50 条
[1]
一种电迁移测试结构 [P]. 
虞勇坚 ;
贾沛 ;
万永康 ;
陆坚 .
中国专利 :CN114823630A ,2022-07-29
[2]
一种电迁移测试结构 [P]. 
王志强 ;
李宁曦 ;
韩坤 .
中国专利 :CN210743940U ,2020-06-12
[3]
一种电迁移测试结构 [P]. 
陈芳 .
中国专利 :CN205376473U ,2016-07-06
[4]
一种电迁移测试结构 [P]. 
王佼 ;
宋永梁 .
中国专利 :CN204045580U ,2014-12-24
[5]
一种电迁移测试结构 [P]. 
冯军宏 .
中国专利 :CN205789952U ,2016-12-07
[6]
一种电迁移测试结构 [P]. 
陈芳 .
中国专利 :CN205376515U ,2016-07-06
[7]
一种电迁移测试结构 [P]. 
王莎莎 ;
陈航 ;
郑泽杰 .
中国专利 :CN220895507U ,2024-05-03
[8]
电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P]. 
吴龙 ;
王帆 .
中国专利 :CN112864131A ,2021-05-28
[9]
电迁移测试结构及电迁移测试方法 [P]. 
吴龙 ;
王帆 .
中国专利 :CN112864131B ,2024-04-16
[10]
电迁移测试结构 [P]. 
单文光 ;
宋永梁 .
中国专利 :CN206332024U ,2017-07-14
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