半导体器件的制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200310103000.6
申请日
2003-10-31
公开(公告)号
CN1501455A
公开(公告)日
2004-06-02
发明(设计)人
平岩篤 酒井哲 石川大 池田良广
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L21314
IPC分类号
H01L213105 H01L21283 H01L21336 H01L218234
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
王永刚
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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