集成有只读存储器的芯片及内建自测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810101518.9

申请日：

2008-03-07

公开(公告)号：

CN101236790A

公开(公告)日：

2008-08-06

发明(设计)人：

蔡鸣付军

申请人：

申请人地址：

100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层

IPC主分类号：

G11C2912

IPC分类号：

代理机构：

上海和跃知识产权代理事务所

代理人：

孟建勇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-08-06	公开	公开
2009-03-04	实质审查的生效	实质审查的生效
2012-04-18	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101330928074 IPC(主分类):G11C 29/12 专利申请号:2008101015189 公开日:20080806

共 50 条

[1]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372A ,2025-03-25

[2]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372B ,2025-10-21

[3]

只读存储器的快速、低面积自测试 [P].

R·辛格 ;

A·巴尔 ;

T·K·厚在尔 .

:CN121215009A ,2025-12-26

[4]

存储器的内建自测试系统 [P].

彭涛 .

中国专利 :CN111292795B ,2020-06-16

[5]

存储器的内建自测试系统 [P].

王建群 ;

徐成宇 .

中国专利 :CN120164513A ,2025-06-17

[6]

存储器内建自测试方法 [P].

杨修 ;

唐杜娟 .

中国专利 :CN101339811A ,2009-01-07

[7]

存储器的快速内建自测试系统及方法 [P].

拜福君 ;

熊保玉 .

中国专利 :CN103943152B ,2014-07-23

[8]

存储器芯片内建自测试电路装置 [P].

杨正杰 .

中国专利 :CN208655247U ,2019-03-26

[9]

存储器的内建自测试系统的测试方法 [P].

王建群 ;

徐成宇 .

中国专利 :CN120164512A ,2025-06-17

[10]

存储器、内建自测试方法和测试系统 [P].

张瑞 .

中国专利 :CN118824336B ,2025-10-03

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