集成封装的芯片检测装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202120361103.6
申请日
2021-02-09
公开(公告)号
CN214845618U
公开(公告)日
2021-11-23
发明(设计)人
彭兴义
申请人
申请人地址
224015 江苏省盐城市盐都区张庄街道康庄大道双创园综合体1#厂房(G)
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
苏州创元专利商标事务所有限公司 32103
代理人
王健
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
DFN封装芯片的检测装置 [P]. 
彭兴义 .
中国专利 :CN114910770A ,2022-08-16
[2]
用于半导体集成电路封装的测试装置 [P]. 
彭兴义 .
中国专利 :CN214845617U ,2021-11-23
[3]
用于集成电路的芯片测试系统 [P]. 
彭兴义 .
中国专利 :CN215263843U ,2021-12-21
[4]
稳定的芯片检测装置 [P]. 
朱陈焜 .
中国专利 :CN206235631U ,2017-06-09
[5]
封装芯片检测装置 [P]. 
郑国荣 ;
钟汉龙 ;
祝志强 ;
林建材 .
中国专利 :CN216297160U ,2022-04-15
[6]
集成芯片检测装置 [P]. 
高化伟 ;
刘秀锋 ;
吴文通 .
中国专利 :CN210199255U ,2020-03-27
[7]
方便使用的新型芯片检测装置 [P]. 
朱陈焜 .
中国专利 :CN206178092U ,2017-05-17
[8]
封装芯片缺陷检测装置及其方法 [P]. 
周健 .
中国专利 :CN111965215A ,2020-11-20
[9]
一种芯片封装用的检测装置 [P]. 
王慧卉 ;
向双玉 .
中国专利 :CN222299745U ,2025-01-03
[10]
芯片自动检测设备 [P]. 
彭兴义 .
中国专利 :CN113003203A ,2021-06-22