学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
集成封装的芯片检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202120361103.6
申请日
:
2021-02-09
公开(公告)号
:
CN214845618U
公开(公告)日
:
2021-11-23
发明(设计)人
:
彭兴义
申请人
:
申请人地址
:
224015 江苏省盐城市盐都区张庄街道康庄大道双创园综合体1#厂房(G)
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
苏州创元专利商标事务所有限公司 32103
代理人
:
王健
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-23
授权
授权
共 50 条
[1]
DFN封装芯片的检测装置
[P].
彭兴义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭兴义
.
中国专利
:CN114910770A
,2022-08-16
[2]
用于半导体集成电路封装的测试装置
[P].
彭兴义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭兴义
.
中国专利
:CN214845617U
,2021-11-23
[3]
用于集成电路的芯片测试系统
[P].
彭兴义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭兴义
.
中国专利
:CN215263843U
,2021-12-21
[4]
稳定的芯片检测装置
[P].
朱陈焜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱陈焜
.
中国专利
:CN206235631U
,2017-06-09
[5]
封装芯片检测装置
[P].
郑国荣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑国荣
;
钟汉龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
钟汉龙
;
祝志强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
祝志强
;
林建材
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林建材
.
中国专利
:CN216297160U
,2022-04-15
[6]
集成芯片检测装置
[P].
高化伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高化伟
;
刘秀锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘秀锋
;
吴文通
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴文通
.
中国专利
:CN210199255U
,2020-03-27
[7]
方便使用的新型芯片检测装置
[P].
朱陈焜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱陈焜
.
中国专利
:CN206178092U
,2017-05-17
[8]
封装芯片缺陷检测装置及其方法
[P].
周健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周健
.
中国专利
:CN111965215A
,2020-11-20
[9]
一种芯片封装用的检测装置
[P].
王慧卉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株洲宏达电子股份有限公司
株洲宏达电子股份有限公司
王慧卉
;
向双玉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株洲宏达电子股份有限公司
株洲宏达电子股份有限公司
向双玉
.
中国专利
:CN222299745U
,2025-01-03
[10]
芯片自动检测设备
[P].
彭兴义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭兴义
.
中国专利
:CN113003203A
,2021-06-22
←
1
2
3
4
5
→