一种深硅槽中选择性外延锗方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110956076.1
申请日
2021-08-19
公开(公告)号
CN113658905A
公开(公告)日
2021-11-16
发明(设计)人
杨荣
申请人
申请人地址
100096 北京市海淀区安宁庄路11号院东门501号
IPC主分类号
H01L21762
IPC分类号
H01L27142
代理机构
成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214
代理人
罗强
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
锗硅选择性外延生长预处理方法 [P]. 
张文广 ;
郑春生 ;
徐强 ;
陈玉文 .
中国专利 :CN102496574A ,2012-06-13
[2]
选择性外延生长锗硅的晶片预处理方法 [P]. 
林静 .
中国专利 :CN103928294A ,2014-07-16
[3]
波导锗探测器制作工艺中选择性锗外延的前处理方法 [P]. 
郭安然 ;
郭培 ;
雷仁方 ;
彭松 ;
王培界 ;
黄建 .
中国专利 :CN111816733A ,2020-10-23
[4]
一种选择性外延锗硅薄膜的制备方法 [P]. 
叶志镇 ;
吴贵斌 ;
刘国军 ;
赵星 .
中国专利 :CN1713350A ,2005-12-28
[5]
一种非选择性生长锗硅外延的方法 [P]. 
黄锦才 .
中国专利 :CN101724896A ,2010-06-09
[6]
选择性外延硅基脊型光波导 [P]. 
杨荣 ;
王百钱 ;
余明斌 .
中国专利 :CN222259620U ,2024-12-27
[7]
一种锗硅外延层生长方法 [P]. 
涂火金 .
中国专利 :CN102956445A ,2013-03-06
[8]
利用氮注入改善锗硅选择性外延的侧墙淀积问题的方法 [P]. 
邱裕明 .
中国专利 :CN103996619A ,2014-08-20
[9]
在低温下的选择性硅锗外延的方法 [P]. 
黄奕樵 ;
仲华 .
美国专利 :CN110783171B ,2025-01-07
[10]
在低温下的选择性硅锗外延的方法 [P]. 
黄奕樵 ;
仲华 .
中国专利 :CN110783171A ,2020-02-11