劣化量推定装置、蓄电系统、劣化量推定方法、及计算机程序

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201880064906.6
申请日
2018-10-02
公开(公告)号
CN111183363A
公开(公告)日
2020-05-19
发明(设计)人
古川和辉 松井裕树
申请人
申请人地址
日本京都府
IPC主分类号
G01R31392
IPC分类号
G01R31389 H01M1048 H02J700
代理机构
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
谢辰
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[41]
推定装置、方法及计算机可读存储介质 [P]. 
泷伴子 .
中国专利 :CN115067976A ,2022-09-20
[42]
推定装置、方法及计算机可读存储介质 [P]. 
泷伴子 .
中国专利 :CN115120253A ,2022-09-30
[43]
推定装置、方法及计算机可读存储介质 [P]. 
泷伴子 .
中国专利 :CN115082577A ,2022-09-20
[44]
推定装置、方法及计算机可读存储介质 [P]. 
泷伴子 .
中国专利 :CN115131277A ,2022-09-30
[45]
转矩推定系统、转矩推定方法及储存有程序的计算机可读介质 [P]. 
高桥太郎 .
中国专利 :CN113352315A ,2021-09-07
[46]
显示装置、计算机程序、记录介质及温度推定方法 [P]. 
吉田雄矢 .
中国专利 :CN103959027A ,2014-07-30
[47]
转矩推定系统、转矩推定方法及储存有程序的计算机可读介质 [P]. 
高桥太郎 .
日本专利 :CN113352315B ,2024-07-12
[48]
新道路推定辅助装置、新道路推定辅助方法、计算机程序以及记录有计算机程序的记录介质 [P]. 
山下由美子 .
中国专利 :CN110892462A ,2020-03-17
[49]
量测方法和设备、计算机程序及光刻系统 [P]. 
曾思翰 ;
彭玥霖 ;
方仁宇 ;
A·J·登博夫 ;
A·斯塔杰 ;
洪敬懿 ;
P·沃纳尔 .
中国专利 :CN107771271A ,2018-03-06
[50]
量测方法和设备、计算机程序及光刻系统 [P]. 
N·潘迪 ;
周子理 ;
A·E·A·科伦 ;
G·范德祖克 .
中国专利 :CN108139682A ,2018-06-08