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一种芯片测试装置

被引：0
申请号：
CN202222234956.0
申请日：
2022-08-24
公开(公告)号：
CN218037201U
公开(公告)日：
2022-12-13
发明(设计)人：
宁丽娟
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市光明区马田街道新庄社区新围第四工业区A59栋501
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
北京深川专利代理事务所(普通合伙) 16058
代理人：
疏亚雅
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-12-13 授权 授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试装置 [P]. 
宁丽娟 .
中国专利 :CN218037195U ,2022-12-13
[2]
芯片测试装置 [P]. 
魏北 ;
刘水庆 .
中国专利 :CN221746098U ,2024-09-20
[3]
一种芯片测试结构及测试装置 [P]. 
宁丽娟 .
中国专利 :CN215641673U ,2022-01-25
[4]
一种芯片测试装置 [P]. 
余永庆 ;
唐章海 ;
王伟 .
中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18
[5]
一种芯片测试装置 [P]. 
冯国淇 ;
覃宗鹏 .
中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12
[6]
一种芯片测试装置 [P]. 
何士龙 .
中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
陈兵录 .
中国专利 :CN209486249U ,2019-10-11
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
姜磊 ;
刘敬伟 ;
仝飞 .
中国专利 :CN209728113U ,2019-12-03
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
李明 ;
郭晓旭 ;
樊晓华 ;
边海波 .
中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
李关辉 ;
李清龙 ;
李永华 ;
吴庆全 .
中国专利 :CN221124785U ,2024-06-11
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