大规模集成电路边界扫描测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN01128718.7

申请日：

2001-07-18

公开(公告)号：

CN1369714A

公开(公告)日：

2002-09-18

发明(设计)人：

缪栋陈斌文周战馨王毓政孙东

申请人：

申请人地址：

710025陕西省西安市东郊骊山路一号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R31303

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2002-09-18	公开	公开
2004-06-30	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回
2002-12-11	实质审查的生效	实质审查的生效
2002-06-19	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

系统大规模集成电路 [P].

市川武志 .

中国专利 :CN100530045C ,2006-11-22

[2]

大规模集成电路封装 [P].

末永宽 ;

齐藤义行 .

中国专利 :CN1574349A ,2005-02-02

[3]

大规模集成电路的测试方法及系统 [P].

杨兵 .

中国专利 :CN111624475B ,2020-09-04

[4]

半导体大规模集成电路及半导体大规模集成电路制造方法 [P].

松泽一也 .

中国专利 :CN1828901A ,2006-09-06

[5]

大规模集成电路层次树展示系统 [P].

杨胜康 .

中国专利 :CN115455871A ,2022-12-09

[6]

设计系统大规模集成电路的方法 [P].

中岛博行 .

中国专利 :CN1430265A ,2003-07-16

[7]

大规模集成电路的配置方法 [P].

崎山史朗 ;

木下雅善 ;

梶原准 ;

山本裕雄 ;

里见胜治 .

中国专利 :CN1310862A ,2001-08-29

[8]

一种大规模集成电路测试方法 [P].

邓希言 ;

梁剑秋 .

中国专利 :CN119959734A ,2025-05-09

[9]

再现装置、再现方法、系统大规模集成电路 [P].

小田智美 ;

铃木大作 ;

松浦康之 .

中国专利 :CN101542622A ,2009-09-23

[10]

块间接口电路和系统大规模集成电路 [P].

茂木功 ;

永田荣治 .

中国专利 :CN1249564C ,2004-02-04

← 1 2 3 4 5 →