设计系统大规模集成电路的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN02158389.7

申请日：

2002-12-30

公开(公告)号：

CN1430265A

公开(公告)日：

2003-07-16

发明(设计)人：

中岛博行

申请人：

申请人地址：

日本神奈川

IPC主分类号：

H01L2182

IPC分类号：

H01L2700 G06F1750

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司

代理人：

关兆辉;张天舒

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2003-07-16	公开	公开
2003-10-01	实质审查的生效	实质审查的生效
2006-12-27	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回

共 50 条

[1]

系统大规模集成电路 [P].

市川武志 .

中国专利 :CN100530045C ,2006-11-22

[2]

大规模集成电路封装 [P].

末永宽 ;

齐藤义行 .

中国专利 :CN1574349A ,2005-02-02

[3]

大规模集成电路的配置方法 [P].

崎山史朗 ;

木下雅善 ;

梶原准 ;

山本裕雄 ;

里见胜治 .

中国专利 :CN1310862A ,2001-08-29

[4]

半导体大规模集成电路及半导体大规模集成电路制造方法 [P].

松泽一也 .

中国专利 :CN1828901A ,2006-09-06

[5]

系统大规模集成电路设计支持设备及方法 [P].

冈本稔 .

中国专利 :CN100365637C ,2004-12-01

[6]

大规模集成电路的测试方法及系统 [P].

杨兵 .

中国专利 :CN111624475B ,2020-09-04

[7]

大规模集成电路层次树展示系统 [P].

杨胜康 .

中国专利 :CN115455871A ,2022-12-09

[8]

再现装置、再现方法、系统大规模集成电路 [P].

小田智美 ;

铃木大作 ;

松浦康之 .

中国专利 :CN101542622A ,2009-09-23

[9]

制造大规模集成电路的处理设备 [P].

上杉文彦 ;

伊藤奈津子 .

中国专利 :CN1198589A ,1998-11-11

[10]

大规模集成电路边界扫描测试系统 [P].

缪栋 ;

陈斌文 ;

周战馨 ;

王毓政 ;

孙东 .

中国专利 :CN1369714A ,2002-09-18

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